[发明专利]一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台

说明书

本发明公开一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台，属于芯片测试领域，包括FPGA和V93000测试机，所述V93000测试机通过MS DPS板卡与所述FPGA的电源模块连接，为所述FPGA及外围电路供电，所述V93000测试机通过Pogo block模组与所述FPGA的IO模块进行通道直连；所述预测试平台还包括BPI FLASH模块、NorFLASH模块、时钟模块和SCI模块；其中，所述BPI FLASH模块与所述FPGA直连，用于存储SoC芯片的网表文件；所述NorFLASH模块通过电压转换后与所述FPGA进行连接，用于存储SoC芯片程序运行文件；所述FPGA通过SPI端口对所述时钟模块进行配置；所述SCI模块实现所述FPGA对串口读写的控制，与其他外设互联进行数据传输。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台。

背景技术

随着集成电路的飞速发展，片上集成系统SoC得到了越来越广泛的应用。而在SoC电路的整个设计过程中，测试环节难度大、耗时长、费用高。测试时间少则一个月，多则数月，费用可占到芯片制造成本的50％以上。芯片的开发周期中测试环节将会有越来越大的影响，是制约SoC实际应用的一个关键因素。

普通的芯片测试流程是在芯片开发的最后阶段对芯片进行ATE测试程序开发及芯片验证，耗时长。特别是一些高速端口的ATE测试程序开发，常常需要耗时几个月，增加了芯片的整体开发周期。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台，以实现在SoC芯片设计阶段进行测试程序开发及芯片验证。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台，包括FPGA和V93000测试机，所述V93000测试机通过MS DPS板卡与所述FPGA的电源模块连接，为所述FPGA及外围电路供电，所述V93000测试机通过Pogo block模组与所述FPGA的IO模块进行通道直连；

所述预测试平台还包括BPI FLASH模块、NorFLASH模块、时钟模块和SCI模块；其中，

所述BPI FLASH模块与所述FPGA直连，用于存储SoC芯片的网表文件；所述NorFLASH模块通过电压转换后与所述FPGA进行连接，用于存储SoC芯片程序运行文件；所述FPGA通过SPI端口对所述时钟模块进行配置；所述SCI模块实现所述FPGA对串口读写的控制，与其他外设互联进行数据传输。

可选的，所述BPI FLASH模块所用芯片为MT28GU01GAAA1EGC。

可选的，所述NorFLASH模块采用1Gb容量的S29GL01GP芯片，通过两片电平转换芯片GTL2000DL进行电压转换，将所述S29GL01GP芯片与所述FPGA进行连接。

可选的，所述时钟模块所用的时钟管理芯片为AD9518-4ABCPZ，其参考时钟由晶振或外部SMA接口提供。

可选的，所述FPGA的通道通过电压转换芯片TXS0108E与芯片AD9518-4ABCPZ的SPI端口连接，所述FPGA通过SPI接口完成对所述芯片AD9518-4ABCPZ的配置，所述芯片AD9518-4ABCPZ输出的时钟供所述FPGA使用。

可选的，所述SCI模块所用芯片为MAX3232E。

可选的，所示FPGA的IO接口通过电压转换芯片TXS0108E与芯片MAX3232E的UART端口连接，实现FPGA对串口读写的控制，与其他外设互联进行数据传输。