[发明专利]一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台有效
申请号: | 202011195229.7 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112287623B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 陶知;侯庆庆;李文学;桂江华;邵健 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G06F30/327 | 分类号: | G06F30/327;G06F30/33;G06F30/367 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga v93000 测试 预测 平台 | ||
1.一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,包括FPGA和V93000测试机,所述V93000测试机通过MSDPS板卡与所述FPGA的电源模块连接,为所述FPGA及外围电路供电,所述V93000测试机通过Pogo block模组与所述FPGA的IO模块进行通道直连;
所述预测试平台还包括BPI FLASH模块、NorFLASH模块、时钟模块和SCI模块;其中,
所述BPI FLASH模块与所述FPGA直连,用于存储SoC芯片的网表文件;所述NorFLASH模块通过电压转换后与所述FPGA进行连接,用于存储SoC芯片程序运行文件;所述FPGA通过SPI端口对所述时钟模块进行配置;所述SCI模块实现所述FPGA对串口读写的控制,与其他外设互联进行数据传输;
所述NorFLASH模块采用1Gb容量的S29GL01GP芯片,通过两片电平转换芯片GTL2000DL进行电压转换,将所述S29GL01GP芯片与所述FPGA进行连接;
所述时钟模块所用的时钟管理芯片为AD9518-4ABCPZ,其参考时钟由晶振或外部SMA接口提供;
所述FPGA的通道通过电压转换芯片TXS0108E与芯片AD9518-4ABCPZ的SPI端口连接,所述FPGA通过SPI接口完成对所述芯片AD9518-4ABCPZ的配置,所述芯片AD9518-4ABCPZ输出的时钟供所述FPGA使用;
所述SCI模块所用芯片为MAX3232E;
所述FPGA的IO接口通过电压转换芯片TXS0108E与芯片MAX3232E的UART端口连接,实现FPGA对串口读写的控制,与其他外设互联进行数据传输。
2.如权利要求1所述的基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,所述BPIFLASH模块所用芯片为MT28GU01GAAA1EGC。
3.如权利要求1所述的基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,所述电源模块中各电源VCCINT_FPGA、MGTAVCC_FPGA、VCC1V8_FPGA、MGTAUX_FPGA、MGTAVTT_FPGA、VCC3V3通过MSDPS板卡的15路电源DPS11、DPS12、DPS13、DPS21、DPS22、DPS25、DPS26、DPS31、DPS32、DPS35、DPS36、DPS81、DPS82、DPS85、DPS86进行供电,满足所需电压及电流。
4.如权利要求1所述的基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,所述FPGA的IO模块通过Pogo block模组的数字通道101-124和225-232连接所述V93000测试机。
5.如权利要求1-4任一项所述的基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,所述BPI FLASH模块、所述NorFLASH模块、所述时钟模块、所述SCI模块、所述电源模块和所述IO模块均集中在同一块电路板上。
6.如权利要求1-4任一项所述的基于FPGA和V93000测试机的预测试平台,其特征在于,所述FPGA的型号为XCVU440-FLGA2892-1-C。
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