[发明专利]倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011188383.1 申请日: 2020-10-30
公开(公告)号: CN112433251A 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 秦俐;罗坤;雍杰;戈理;巫骏;李自龙 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/50 分类号: G01V1/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 薛平;周晓飞
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 倾斜 地层 vsp 走廊 叠加 剖面 校正 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置,该方法包括:根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度;根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度;根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比;根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明通过分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度,进而利用确定的层度速比,实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。

技术领域

本发明涉及地球物理勘探技术领域,尤其涉及倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

目前,工业界在计算VSP(Vertical Seismic Profile,垂直地震剖面)旅行时的时候,通常以水平层介质为前提。然而,实际上地震波从震源到检波器的传播遵循费马定理的最短走时原则,因此倾斜地层会给VSP走廊叠加的时深和波组带来很大的误差,从而影响倾斜地层地区的VSP走廊叠加剖面的地震地质层位标定精度。

因此,需要对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

发明内容

本发明实施例提供一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法,用以校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面,该方法包括:

根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度;

根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度;

根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比;

根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

本发明实施例还提供一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置,用以校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面,该装置包括:

倾斜层速度确定模块,用于根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度;

水平层速度确定模块,用于根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度;

层速度比确定模块,用于根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比;

校正模块,用于根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

本发明实施例还提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有执行上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法的计算机程序。

本发明实施例中,根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度;根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度;根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比;根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明实施例分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度,进而利用确定的VSP层速度比,实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:

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