[发明专利]倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置

权利要求书

1.一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，包括：

根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；

根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；

根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；

根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

2.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度，包括：

提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；

根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。

3.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度，包括：

利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录；

提取水平地层模型的VSP记录的初至时间；

根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。

4.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值。

5.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，包括：

利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

6.一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，包括：

倾斜层速度确定模块，用于根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；

水平层速度确定模块，用于根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；

层速度比确定模块，用于根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；

校正模块，用于根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

7.如权利要求6所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，倾斜层速度确定模块包括：

倾斜初至提取单元，用于提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；

倾斜层速度确定单元，用于根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。

8.如权利要求6所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，水平层速度确定模块包括：

VSP记录正演单元，用于利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录；

水平初至提取单元，用于提取水平地层模型的VSP记录的初至时间；

水平层速度确定单元，用于根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。

9.如权利要求6所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值。

10.如权利要求6所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，校正模块包括：

校正单元，用于利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。

11.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5任一所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求1至5任一所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法的计算机程序。