[发明专利]辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法及试样盒在审
| 申请号： | 202011131583.3 | 申请日： | 2020-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN112304985A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 吴璐;张伟;覃检涛;毛建军;何文;王桢;方忠强;潘荣剑;罗浩 | 申请（专利权）人： | 中国核动力研究设计院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N1/28 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 胡晓丽 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 辐照 反应堆 结构 材料 tem 试样 制备 方法 | ||
1.辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法，其特征在于，步骤1，取未经辐照的反应堆结构材进行加工获得预制样品，预制样品的尺寸大小满足TEM测试试样的要求；
步骤2，将步骤1获得的预制样品置于闭合容器内，通过夹块夹持闭合容器，并装载到辐照装置内再进行辐照考验；
步骤3，辐照结束后，取出闭合容器中辐照后样品经减薄处理后，用于透射电镜检测。
2.根据权利要求1所述的辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法，其特征在于，所述预制样品的尺寸大小为：直径为3mm，厚度约为50μm-70μm。
3.根据权利要求1所述的辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法，其特征在于，所述步骤1中，对未经辐照的反应堆结构材进行加工处理的方法操作包括以下步骤：依次经切割加工处理、镶嵌处理、机械抛光处理和凹坑处理。
4.根据权利要求1所述的辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法，其特征在于，所述步骤2中，将两个或两个以上的预制样品置于闭合容器中，同时用于辐照考验。
5.根据权利要求1所述的辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法，其特征在于，所述步骤3中，减薄处理手段包括电解双喷减薄和离子减薄。
6.一种辐照试样盒，其特征在于，在权利要求1至5任一项所述的辐照后反应堆结构材料TEM试样的制备方法中，用作闭合容器；所述辐照试样盒包括下底座(2)和上盖板(1)，所述下底座(2)的上表面上设有凹槽(4)，所述凹槽(4)用于容纳预制样品；所述上盖板(1)的下表面与下底座(2)的上表面贴合固定。
7.根据权利要求6所述的一种辐照试样盒，其特征在于，所述下底座(2)的上表面设有凸起I/或凹槽I，所述上盖板(1)的下表面设有对应的凹槽II/或凸起II；下底座(2)的上凸起I与上盖板(1)的凹槽II契合拼接，或者上盖板(1)的凸起II与下底座(2)的凹槽I契合拼接。
8.根据权利要求6所述的一种辐照试样盒，其特征在于，所述凹槽(4)为椭形凹槽；辐照试样盒外形为长方体。
9.根据权利要求8所述的一种辐照试样盒，其特征在于，所述下底座(2)的上表面设有多个凹槽(4)，多个凹槽(4)在下底座(2)上呈矩阵排列。
10.根据权利要求6所述的一种辐照试样盒，其特征在于，所述上盖板(1)与下底座(2)通过螺钉(3)紧固连接。
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