[发明专利]KQI感知受限条件确定方法、装置、设备及计算机存储介质

权利要求书

1.一种KQI感知受限条件确定方法，其特征在于，包括：

获取建模基础数据；

对所述建模基础数据进行预处理，得到预处理后的数据；

基于所述预处理后的数据，利用门限求解算法进行门限求解，确定关键质量指标KQI感知受限条件。

2.根据权利要求1所述的KQI感知受限条件确定方法，其特征在于，所述获取建模基础数据，包括：

获取KQI统计、厂家关键性能指标KPI、测量报告MR平台统计指标以及工参表数据。

3.根据权利要求1所述的KQI感知受限条件确定方法，其特征在于，所述对所述建模基础数据进行预处理，得到预处理后的数据，包括：

对所述建模基础数据进行数据清洗、异常值处理和缺失值处理中的至少一种，得到预处理后的数据。

4.根据权利要求3所述的KQI感知受限条件确定方法，其特征在于，所述对所述建模基础数据进行异常值处理，包括：

使用变异箱线法对所述建模基础数据中的左偏数据进行异常值处理。

5.根据权利要求1所述的KQI感知受限条件确定方法，其特征在于，所述基于所述预处理后的数据，利用门限求解算法进行门限求解，确定关键质量指标KQI感知受限条件，包括：

基于所述预处理后的数据，利用基于泰勒优化的决策树算法进行门限求解，确定所述KQI感知受限条件。

6.一种KQI感知受限条件确定装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取建模基础数据；

预处理模块，用于对所述建模基础数据进行预处理，得到预处理后的数据；

门限求解模块，用于基于所述预处理后的数据，利用门限求解算法进行门限求解，确定关键质量指标KQI感知受限条件。

7.根据权利要求6所述的KQI感知受限条件确定装置，其特征在于，所述获取模块，包括：

获取单元，用于获取KQI统计、厂家关键性能指标KPI、测量报告MR平台统计指标以及工参表数据。

8.根据权利要求6所述的KQI感知受限条件确定装置，其特征在于，所述预处理模块，包括：

预处理单元，用于对所述建模基础数据进行数据清洗、异常值处理和缺失值处理中的至少一种，得到预处理后的数据。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；

所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如权利要求1-5任意一项所述的KQI感知受限条件确定方法。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-5任意一项所述的KQI感知受限条件确定方法。