[发明专利]一种实现全方位测量的激光粒度仪及测量方法

说明书

本公开提出了一种实现全方位测量的激光粒度仪及测量方法，激光粒度仪包括旋转激光发射接收器和样品池，旋转激光发射接收器以样品池为旋转中心可旋转设置在样品池的周圈，旋转激光发射接收器包括旋转装置和设置在旋转装置上的测量装置，测量装置用于向样品池发射激光信号并探测回波信号。本公开激光粒度仪及其测量方法，能够实现0°～180°散射光的连续无缝接收，进而扩展了激光粒度仪的测量下限。测量结果与标称值符合良好，测量下限接近静态光散射方法的理论极限。并通过采用旋转的激光发射接收器进行多角度测量，进而测量不规则颗粒在不同角度下的尺寸问题。

技术领域

本公开涉及激光粒度仪相关技术领域，具体的说，是涉及一种实现全方位 测量的激光粒度仪及测量方法。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术信息，并不必然构成 在先技术。

激光粒度仪是利用激光照射到微粉颗粒上产生光的衍射效应，颗粒的大小 差异带来激光衍射角度的变化，投影到探测器上表现为衍射光环大小的变化。 根据光环的大小来分析粒度的粗细，根据光环的强弱判断某一粒度数量的多少。 然后由计算机根据衍射光环的大小和光的强弱，按照预定的数学关系进行拟合 近似分析，得到样品的粒度组成分析结果。随着科学研究和工业生产的发展， 测量纳米颗粒的需求越来越多，由于它具有测量范围宽、重复性好、速度快、 中值粒径分析结果比较准确，稳定、操作容易等显着优点，非常适合生物医药 制剂行业。尤其广泛应用于微球分析、粉雾剂质量研究、脂质体粒径和分布检 验、乳剂微粒子分析、制剂中间体、原料药、辅料及中药粉体粒度等。

激光粒度分析仪的应用越来越广泛，对激光粒度分析仪的要求也越来越高， 发明人发现，传统激光粒度仪用于粒度分析，测量方位单一，对于不规则颗粒 只能得到一个角度的大小，不能对颗粒尤其对于纳米颗粒进行准确全面分析， 不能有效准确地反映出粒度组成的变化。颗粒越小，散射角越大，对于小颗粒 的粒度测量必须扩大散射角的测量范围，目前的激光粒度仪的测量下限有限， 测量的颗粒大小不能满足小颗粒的测量。

发明内容

本公开为了解决上述问题，提出了一种实现全方位测量的激光粒度仪及测 量方法，设置了旋转激光发射接收器以及环形的样品池，能够实现全方位的测 量颗粒的尺寸大小，进而扩展了激光粒度仪的测量下限。

为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：

一个或多个实施例提供了一种实现全方位测量的激光粒度仪，包括旋转激 光发射接收器和样品池，旋转激光发射接收器以样品池为旋转中心可旋转设置 在样品池的周圈，旋转激光发射接收器包括旋转装置和设置在旋转装置上的测 量装置，测量装置用于向样品池发射激光信号并探测回波信号。

一个或多个实施例提供了基于上述的一种实现全方位测量的激光粒度仪的 粒度测量方法，包括如下步骤：

校正样品池中心位置位于旋转激光发射接收器的旋转中心上，并使得激光 器、透镜、针孔、平凸柱面透镜、主探测器中心孔、主探测器在穿过样品池中 心的同一光轴上；

设定旋转激光发射接收器的旋转角度，控制激光器以不同的角度发射激光 信号；

接收被样品颗粒散射后的回波信号，根据回波信号分析待检测样品的粒度 分布。

与现有技术相比，本公开的有益效果为：

本公开激光粒度仪及其测量方法，能够实现0°～180°散射光的连续无缝接收， 进而扩展了激光粒度仪的测量下限。测量结果与标称值符合良好，测量下限接 近静态光散射方法的理论极限。并通过采用旋转的激光发射接收器进行多角度 测量，进而测量不规则颗粒在不同角度下的尺寸问题。