[发明专利]一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法

权利要求书

1.一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法，其特征在于，包括下列步骤：

步骤1、搭建八端口四基线射频设备；

步骤2、根据辐射源角度范围及波长确定基线间隔和两个基线间隔的比值即间隔因子；

步骤3、确定辐射源所在的台阶数；具体为：

步骤3.1、利用式(15)所示的测量原理计算出当辐射源在其预估范围内两个基线间隔d₁、d₂的模糊相位差φ₁和φ₂：

式(15)中，S_i6＝P_i/P₆，i＝1,2,3,4；P_i为与射频设备第i号端口相接的肖特基二极管检波器输出的信号功率大小，P₆为与射频设备第6号端口相接的基线接收到的信号功率大小；

步骤3.2、根据模糊相位差φ₁和φ₂和式(2)解算对应的模糊角度值；

式(2)中，λ为目标辐射的电磁波信号的波长；

步骤3.3、将步骤3.2中计算的两种模糊角度值相减得到台阶图，台阶总数为L，台阶按对应的辐射源角度由小到大的关系进行编号，为1,2,…,L；

步骤3.4、采用八端口四基线射频设备测量出实际辐射源在两个基线间隔下对应的模糊相位差φ₁和φ₂；

步骤3.5、利用步骤3.4的模糊相位差和式(2)解算两个基线间隔下对应的实际模糊角度值；

步骤3.6、将步骤3.5中的两个实际模糊角度值相减，得到实际台阶值；

步骤3.7、通过步骤3.6中得到的实际台阶值和步骤3.3中得到的台阶图，确定辐射源所在的台阶编号X；

步骤4、还原实际相位值；

步骤5、计算辐射源角度。

2.如权利要求1所述的一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法，其特征在于，所述步骤1具体为：提供射频设备，射频设备的四周每个方向都设置有两个端口，射频设备相对两个方向的四个端口均设置有基线，射频设备的另外四个端口各连接有一肖特基二极管检波器。

3.如权利要求2所述的一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法，其特征在于，所述步骤2具体为：根据辐射源角度范围和波长，确定相对两个基线之间的基线间隔d₁和间隔因子k，k1，进而确定另两个相对基线之间的基线间隔d₂＝k*d₁。

4.如权利要求3所述的一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法，其特征在于，所述述步骤4具体为：

步骤4.1、选取任意基线下测得的相位差＝1,2，表示第n条基线；

步骤4.2、通过以下公式求得实际相位值

式(16)中，t为区间因子，大小由间隔因子k决定；当k∈(1.1,2.9)时，区间因子t＝1，当k∈(3.0,5.0)时，区间因子t＝2。

5.如权利要求4所述的一种基于八端口四基线射频设备的宽角高精度测角方法，其特征在于，所述步骤5具体为：根据步骤4中得到的实际相位值通过公式(2)求得辐射源角度θ₀。