[发明专利]触控芯片、触控检测信号的处理方法和电子设备

权利要求书

1.一种触控芯片，其特征在于，包括：

驱动电路，用于根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期，向所述屏幕的触控层输出打码信号；

检测电路，用于接收所述触控层输出的检测信号；

采样电路，用于根据所述行扫描周期，对所述检测信号进行采样，得到采样数据，其中，所述行扫描周期是变化的，所述采样电路按照相同的采样点数对不同行扫描周期内的所述检测信号进行采样，不同行扫描周期内的采样点数量均为预设值，以降低所述显示层的所述行扫描周期的变化对所述触控层的所述检测信号的影响；以及，

解调电路，用于根据所述采样数据进行正交解调，得到所述检测信号的解调结果；

所述采样电路还用于：

对多个行扫描周期内得到的所述采样数据进行拼接；

其中，所述解调电路具体用于：

根据拼接后的采样数据进行正交解调，其中，所述拼接后的采样数据的采样周期等于每个行扫描周期内的所述采样点数量与1/F1的乘积，F1为用于对所述检测信号进行采样的采样频率。

2.根据权利要求1所述的触控芯片，其特征在于，所述采样电路具体用于：

从所述行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻起，对所述行扫描周期内的所述检测信号进行采样。

3.根据权利要求1所述的触控芯片，其特征在于，所述预设值为小于或者等于F1/F2的整数，其中，F1为用于对所述检测信号进行采样的采样频率，F2为所述行扫描信号的或者所述检测信号的频率。

4.根据权利要求3所述的触控芯片，其特征在于，所述预设值为小于或者等于F1/F2的最大整数。

5.根据权利要求1所述的触控芯片，其特征在于，所述采样电路具体用于：

对所述行扫描周期的有效时间区间内的所述检测信号进行采样，其中，所述有效时间区间为有触摸信号时所述检测信号的幅值发生变化的时间区间。

6.根据权利要求5所述的触控芯片，其特征在于，所述采样电路还用于：

按照与所述有效时间区间内的采样频率相同的频率，在所述行扫描周期内除所述有效时间区间之外的非有效时间区间内，填充固定值作为所述非有效时间区间内的采样数据。

7.一种触控检测信号的处理方法，其特征在于，包括：

根据屏幕的显示层的行同步信号的行扫描周期，向所述屏幕的触控层输出打码信号，并接收所述触控层输出的检测信号；

根据所述行扫描周期，对所述检测信号进行采样，得到采样数据，其中，所述行扫描周期是变化的，不同行扫描周期内的所述检测信号是按照相同的采样点数进行采样的，不同行扫描周期内的采样点数量均为预设值，以降低所述显示层的所述行扫描周期的变化对所述触控层的所述检测信号的影响；

根据所述采样数据进行正交解调，得到所述检测信号的解调结果；

所述方法还包括：

对多个行扫描周期内得到的所述采样数据进行拼接；

其中，所述根据所述采样数据进行正交解调，包括：

根据拼接后的采样数据进行正交解调，其中，所述拼接后的采样数据的采样周期，等于每个行扫描周期内的所述采样点数量与1/F1的乘积，F1为用于对所述检测信号进行采样的采样频率。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对所述检测信号进行采样，包括：

从所述行扫描周期内的所述行同步信号的上升沿的时刻起，对所述行扫描周期内的所述检测信号进行采样。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述预设值为小于或者等于F1/F2的整数，其中，F1为用于对所述检测信号进行采样的采样频率，F2为所述行扫描信号的或者所述检测信号的频率。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述预设值为小于或者等于F1/F2的最大整数。