[发明专利]纹理处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011012274.4 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112233159B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 吴兴涛;王磊 申请(专利权)人: 华夏芯(北京)通用处理器技术有限公司
主分类号: G06T7/40 分类号: G06T7/40;G06T11/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 周春枚
地址: 100080 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 纹理 处理 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种纹理处理方法及装置。其中,该方法包括:获取第一纹理;基于上述第一纹理进行图形管线计算得到第二纹理,以及基于上述第一纹理进行纹理贴图计算得到第三纹理;通过比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到验证结果。本发明解决了相关技术在没有任何参考的前提下,无法验证图形设计的正确性的技术问题。

技术领域

本发明涉及图形处理领域,具体而言,涉及一种纹理处理方法及装置。

背景技术

相关技术在未完全完成完整的图形处理管线的情况下,无法通过执行图形命令或者计算命令验证图形设计的正确性,即在没有任何参考的前提下,很难验证图形设计的正确性,此外,采用模拟验证平台直接比对数据的方式也难以进行可视化验证,无法保证图形管线的正确性。

针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种纹理处理方法及装置,以至少解决相关技术在没有任何参考的前提下,无法验证图形设计的正确性的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面,提供了一种纹理处理方法,包括:获取第一纹理;基于上述第一纹理进行图形管线计算得到第二纹理,以及基于上述第一纹理进行纹理贴图计算得到第三纹理;通过比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到验证结果。

可选的,基于上述第一纹理进行图形管线计算得到上述第二纹理包括:在像素染色器中获取像素染色任务;通过上述像素染色任务对上述第一纹理进行纹理采样,得到上述第二纹理。

可选的,基于上述第一纹理进行纹理贴图计算得到上述第三纹理包括:通过图像存储方式从上述第一纹理获取像素对纹理的采样坐标和偏移量,以及通过渲染至纹理方式将上述采样坐标和上述偏移量保存为第四纹理;对上述第一纹理和上述第四纹理进行纹理采样,得到纹理坐标信息;基于上述纹理坐标信息对上述第一纹理进行纹理采样,得到上述第三纹理。

可选的,通过比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到上述验证结果包括:通过计算处理器执行加载纹理操作,获取上述第二纹理的第一采样任务与上述第三纹理的第二采样任务;基于上述第一采样任务与上述第二采样任务,在相同采样坐标下逐个像素比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到上述验证结果并将上述验证结果保存为第五纹理。

可选的,上述方法还包括:在归一化的设备坐标空间下执行基于纹理贴图的渲染任务,并通过图像加载上述第一纹理获取原始纹理贴图,通过图像加载上述第二纹理获取执行图形渲染管线的纹理贴图,通过图像加载上述第三纹理获取纹理贴图,以及通过图像加载上述第五纹理获取纹理贴图计算误差。

根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种纹理处理装置,包括:获取模块,用于获取第一纹理;计算模块,用于基于上述第一纹理进行图形管线计算得到第二纹理,以及基于上述第一纹理进行纹理贴图计算得到第三纹理;比较模块,用于通过比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到验证结果。

可选的,上述计算模块,用于在像素染色器中获取像素染色任务;通过上述像素染色任务对上述第一纹理进行纹理采样,得到上述第二纹理。

可选的,上述计算模块,用于通过图像存储方式从上述第一纹理获取像素对纹理的采样坐标和偏移量,以及通过渲染至纹理方式将上述采样坐标和上述偏移量保存为第四纹理;对上述第一纹理和上述第四纹理进行纹理采样,得到纹理坐标信息;基于上述纹理坐标信息对上述第一纹理进行纹理采样,得到上述第三纹理。

可选的,上述比较模块,用于通过计算处理器执行加载纹理操作,获取上述第二纹理的第一采样任务与上述第三纹理的第二采样任务;基于上述第一采样任务与上述第二采样任务,在相同采样坐标下逐个像素比较上述第二纹理与上述第三纹理之间的差异,得到上述验证结果并将上述验证结果保存为第五纹理。

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