[发明专利]一种计算机芯片封装测试设备

说明书

本发明公开了一种计算机芯片封装测试设备，包括平板、支撑脚、连杆、左固定架板、右固定架板、螺杆、伺服电机、螺母、导向滑块、导向槽、检测台板、U型架板、升降气缸、挤压板、检测器、衔接块、电流探头、固定侧板、顶出电动推杆、顶出块、连接条、滚轮、滑槽、嵌合槽、检测板、顶出槽、定位导向孔和定位杆。本发明有益之处在于一次可安放多个芯片，多个芯片依次从测试机构底部通过，测试机构通过升降气缸进行升降，从而实现批量化测试，同时更换芯片的位置设置在测试位置的外部，避免工作人员的手伸入到测试位置，可避免升降气缸的意外驱动，造成压伤、夹伤，提高了安全性。

技术领域

本发明涉及一种芯片封装测试设备，具体是一种计算机芯片封装测试设备。

背景技术

计算机芯片是一种用硅材料制成的薄片，其大小仅有手指甲的一半。一个芯片是由几百个微电路连接在一起的，体积很小，在芯片上布满了产生脉冲电流的微电路。

计算机芯片封装测试一般采用电流探头和检测器进行测试，一般具有测试台用于放置芯片，设置有升降机构，用于电流探头和检测器的升降，靠近芯片，实现测试，测试后，通过人工取放芯片，芯片可能不易取出，同时取放位置处于测试处，可能易出现意外夹伤。因此，针对上述问题提出一种计算机芯片封装测试设备。

发明内容

一种计算机芯片封装测试设备，包括平板以及固定安装在平板顶部一侧的U型架板，所述平板的顶部设置有横向驱动机构，所述横向驱动机构的顶部安装有检测台板；所述检测台板的顶部沿长度方向开设有若干个等间距分布的嵌合槽，所述嵌合槽中放置有检测板，所述检测台板的底部沿长度方向开设有若干个等间距分布的顶出槽，所述顶出槽与嵌合槽连通，所述检测板的两侧底部均固定连接有定位杆，所述定位杆与开设在检测台板底部的定位导向孔间隙配合连接；所述U型架板的顶部固定连接有升降气缸，所述升降气缸的输出底端固定连接有测试机构，所述平板的一侧固定安装有顶出机构。

进一步地，所述平板的底部四角处均固定连接有支撑脚，所述支撑脚之间固定连接有连杆。

进一步地，所述横向驱动机构包括左固定架板、右固定架板、螺杆、伺服电机、螺母和导向滑块，所述左固定架板和右固定架板分别固定连接在平板的顶部两侧，所述左固定架板的一侧与伺服电机固定连接，所述螺杆转动连接在左固定架板和右固定架板之间，所述螺杆螺纹连接有螺母，所述螺母的底部固定连接有导向滑块，所述平板的表面开设有导向槽，所述导向槽与导向滑块滑动连接，所述螺母顶部与检测台板固定连接。

进一步地，所述测试机构包括挤压板、检测器、衔接块和电流探头，所述挤压板的顶部中间位置与升降气缸固定连接，所述检测器固定连接在挤压板的一侧，所述衔接块固定连接在挤压板的底部，所述电流探头设置在衔接块的底部。

进一步地，所述平板的边沿处沿长度方向等间距固定连接有连接条，所述连接条转动连接有滚轮，所述滚轮与开设在U型架板内部上的滑槽滑动连接。

进一步地，所述顶出机构包括固定侧板、顶出电动推杆和顶出块，所述固定侧板与平板的一侧固定连接，所述顶出电动推杆固定连接在固定侧板的底部，所述顶出电动推杆的输出顶端固定连接有顶出块。

本发明的有益效果是：本发明提供了一种便于芯片取出的计算机芯片封装测试设备。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明一种实施例的整体结构示意图；

图2为本发明一种实施例的检测台板与U型架板结构示意图；

图3为本发明一种实施例的检测板与检测台板结构示意图。