[发明专利]测量方法及装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取第一点在第一相机坐标系下的第一像点和第一面在所述第一相机坐标系下的第一投影平面；所述第一面为二维图像中待测量物体的上底面；所述二维图像通过二维成像设备采集得到，所述第一相机坐标系为所述二维成像设备的相机坐标系；所述第一点为所述待测量物体上深度值小于第一类点的最小深度值的点，且所述第一点不属于所述上底面；所述第一点或为所述待测量物体的下底面所属平面中除所述第一类点之外的点；所述第一类点包括所述下底面中的点；确定所述第一像点到所述第一投影平面的距离，得到第一距离；依据所述第一距离，得到所述待测量物体的高度。

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在日常生活中，人们经常需要测量物体的尺寸。传统方法中，人们通常使用长度测量工具(如卷尺、直尺、游标卡尺)测量物体的尺寸。但这种传统测量方法对测量者而言，既耗时又耗力，测量效率低。因此，如何高效、准确测量物体的尺寸具有非常重要的意义。

发明内容

本申请提供一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。

第一方面，提供了一种测量方法，所述方法包括：

获取第一点在第一相机坐标系下的第一像点和第一面在所述第一相机坐标系下的第一投影平面；所述第一面为二维图像中待测量物体的上底面；所述二维图像通过二维成像设备采集得到，所述第一相机坐标系为所述二维成像设备的相机坐标系；所述第一点为所述待测量物体上深度值小于第一类点的最小深度值的点，且所述第一点不属于所述上底面；所述第一点或为所述待测量物体的下底面所属平面中除所述第一类点之外的点；所述第一类点包括所述下底面中的点；

确定所述第一像点到所述第一投影平面的距离，得到第一距离；

依据所述第一距离，得到所述待测量物体的高度。

结合本申请任一实施方式，在所述获取第一点在第一相机坐标系下的第一像点和第一面在所述第一相机坐标系下的第一投影平面之前，所述方法还包括：

获取所述二维图像、所述二维图像的深度图和所述二维成像设备的内部参数；

从所述深度图中获取所述上底面中至少三个第二点的深度值；

依据所述内部参数、所述至少三个第二点的深度值和所述至少三个第二点在所述二维图像的像素坐标系下的坐标，得到所述至少三个第二点在所述第一相机坐标系下的像点；

对所述至少三个第二点在所述第一相机坐标系下的像点进行平面拟合处理，得到所述第一投影平面。

结合本申请任一实施方式，在所述第一点为所述待测量物体的下底面所属平面中除所述第一类点之外的点的情况下，所述下底面包括第一角点和与所述第一角点相邻的第二角点；

在所述确定所述第一像点到所述第一投影平面的距离，得到第一距离之前，所述方法还包括：

确定第一线段与第二线段之间的像素点区域，作为第一待选区域；所述第一线段为过所述第一角点和所述第二角点的线段；所述第二线段为所述二维图像中与所述二维图像的像素坐标系的横轴平行、且纵坐标最大的边；

从所述第一待选区域选取一个点作为所述第一点。

结合本申请任一实施方式，所述从所述第一待选区域选取一个点作为所述第一点，包括：

在所述第一线段位于所述待测量物体的正面的情况下，确定过所述第一线段的中点且与所述像素坐标系的纵轴平行的直线，得到第一直线；

从所述第一待选区域中选取位于所述第一直线上的点，作为所述第一点。

结合本申请任一实施方式，所述方法还包括：