[发明专利]一种基于静态测量法的功率模块热阻测试装置在审

专利信息
申请号: 202010871800.6 申请日: 2020-08-26
公开(公告)号: CN112198189A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 飞景明;张彬彬;陈滔;张明华;陈雅容;李岩;郝春雨 申请(专利权)人: 北京卫星制造厂有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01R31/26
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 任林冲
地址: 100190*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 静态 测量 功率 模块 测试 装置
【说明书】:

发明涉及一种基于静态测量法的功率模块热阻测试装置,包括测试主机、测试连接线缆、液冷板、加压装置底座、加压装置支架、加压装置、加压头、一体化热阻测试工装和制冷机,加压装置底座为平板结构,加压装置支架为L型支架;加压装置支架顶部固定加压装置,加压装置与加压装置底座垂直安装,通过加压头对待测器件提供压力,保证器件与一体化热阻测试工装散热表面紧密接触;加压头与待测器件不发生热交换;测试连接线缆为待测器件提供加热功率输出,采集待测器件温度敏感参数,并传给测试主机。本发明具有重复测量一致性好、测量精度高的优点。

技术领域

本发明涉及一种基于静态测量法的功率模块热阻测试装置,属于半导体测试技术。

背景技术

热阻是一个物理学概念,指的是热流(功率)流过导热体时所受到的阻力(会在导热体上产生温差)。热阻的倒数就是热导,通俗地讲,物体导热性能好就是热阻小。对于半导体器件来讲,在工作的时候要施加一定的功率(特别是功率器件),这一功率的绝大部分被转换为热量,并导致器件芯片的温升。芯片上的热量通过芯片烧结材料传递到外壳,并进一步传递到周围的空气环境。

目前国内外针对底部带有电极的功率模块/器件结壳热阻测量采用多块金属板组成测工装,金属板之间电气绝缘,在待测器件底部金属板内埋置热电偶,容易造成器件散热热场不连续,器件底部温度分布不均匀,固定埋置热电偶与器件底部接触不良,造成温度测量偏差;金属板与器件电极接触电阻较大,器件结温测试存在误差,从而导致器件/模块热阻测量误差较大。

发明内容

本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,本发明通过采用带用伸缩电极和伸缩热电偶的一体化工装,可测量底部带电极的功率模块/器件结壳热阻,解决了待测器件底部散热面温度分布不均匀、固定热电偶引入接触热阻及接触电阻造成测试误差大的问题,具有重复测量一致性好、测量精度高的优点。

本发明解决技术的方案是:

一种基于静态测量法的功率模块热阻测试装置,包括测试主机、测试连接线缆、液冷板、加压装置底座、加压装置支架、加压装置、加压头、一体化热阻测试工装和制冷机,

加压装置底座为平板结构,加压装置支架为L型支架;加压装置支架顶部固定加压装置,加压装置与加压装置底座垂直安装,通过加压头对待测器件提供压力,保证器件与一体化热阻测试工装散热表面紧密接触;加压头与待测器件不发生热交换;

测试连接线缆为待测器件提供加热功率输出,采集待测器件温度敏感参数,并传给测试主机;

制冷机为可控温制冷设备,将冷却液控制在规定温度,通过冷却液进出管道流入到液冷板,对液冷板温度进行控制;

液冷板内部加工液冷换热槽道,并设置有液冷进出接口。

进一步的,制冷机可将冷却液温度控制在15℃~200℃之间,以满足不同测试器件的需求。

进一步的,一体化热阻测试工装包括电极伸缩装置、温度传感器、散热块和电极接口,

散热块为正方形,为一体化热阻测试工装的支持结构,为待测器件提供散热路径,作为待测器件一个电极的供电和测量通道;

电极伸缩装置与电极接口安装在散热块内部,电极伸缩装置从散热块上表面露出,电极接口从散热块侧面引出,与测试连接线缆连通,为待测器件电极提供电流、接收测量信号;

温度传感器安装在散热块内部,从散热块上表面露出,用于待测器件壳温测量。

进一步的,温度传感器包括K型热电偶、热电偶固定环、弹簧和弹簧固定片,散热块内部根据热电偶直径、热电偶固定环直径、弹簧固定片直径开不同直径的圆柱,保证零件能安装到散热块内部。

进一步的,K型热电偶其端头为熔化连接,直径小于0.8mm。

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