[发明专利]检查方法、校正方法以及检查装置

说明书

本发明提供一种检查方法、校正方法以及检查装置。能够简单地执行对三维激光扫描仪的检查。提供包括以下步骤的检查方法、校正方法以及检查装置：通过向检查装置的第一区域照射激光，来测定第一区域中被照射了激光的第一空间位置；检查装置测定第一区域中被照射了激光的第一照射位置；通过向检查装置的第二区域照射激光，来测定第二区域中被照射了激光的第二空间位置；检查装置测定第二区域中被照射了激光的第二照射位置；以及将第一空间位置及第二空间位置的测定结果与第一照射位置及第二照射位置的测定结果进行比较。

技术领域

本发明涉及一种检查方法、校正方法以及检查装置。

背景技术

作为获取工业制品、结构物等的三维形状数据的测定装置，已知有向测定对象物照射激光并对反射光进行检测的三维激光扫描仪。作为具有与这种三维激光扫描仪类似的功能和机构的测定装置，已知有激光跟踪仪(laser tracker)，还已知激光跟踪仪的检查方法(例如参照非专利文献1)。

现有技术文献

非专利文献

非专利文献1：ISO10360-10 AnnexB

发明内容

发明要解决的问题

激光跟踪仪与三维激光扫描仪不同，例如通过将作为目标的回射器(retroreflector)配置于测定对象物，并以向回射器的照射位置始终照射激光的方式进行控制(跟踪)，由此测定出到测定对象物的距离及方向等。已知的对激光跟踪仪的检查方法使用了这种回射器。然而，三维激光扫描仪不具有回射器，因此无法进行同样的检查。因而，期望能够简单地执行对三维激光扫描仪的检查。

因此，本发明是鉴于这些点而完成的，其目的在于能够简单地执行对三维激光扫描仪的检查。

用于解决问题的方案

在本发明的第一方式中，提供一种三维激光扫描仪的检查方法，该三维激光扫描仪通过向测定对象照射激光并接收来自所述测定对象的反射光，来测定所述测定对象中被照射了所述激光的位置即空间位置，所述检查方法包括以下步骤：通过向检查装置的第一区域照射所述激光，来测定所述第一区域中被照射了所述激光的第一空间位置；所述检查装置测定所述第一区域中被照射了所述激光的第一照射位置；通过向所述检查装置的与所述第一区域不同的第二区域照射所述激光，来测定所述第二区域中被照射了所述激光的第二空间位置；所述检查装置测定所述第二区域中被照射了所述激光的第二照射位置；以及将由所述三维激光扫描仪得到的所述第一空间位置及所述第二空间位置的测定结果与由所述检查装置得到的所述第一照射位置及所述第二照射位置的测定结果进行比较。

也可以为，所述检查装置具备：第一传感器，其设置于所述第一区域；以及第二传感器，其设置于所述第二区域，距所述第一传感器在预先决定的方向上分离了预先决定的基准间隔，在所述第一空间位置测定步骤中，向所述第一传感器照射所述激光来测定所述第一空间位置，在所述第一照射位置测定步骤中，由所述第一传感器测定所述第一照射位置，在所述第二空间位置测定步骤中，向所述第二传感器照射所述激光来测定所述第二空间位置，在所述第二照射位置测定步骤中，由所述第二传感器测定所述第二照射位置。

也可以为，所述检查装置具备第一传感器，所述第一传感器以能够从所述第一区域移动到所述第二区域的方式设置，在所述第一空间位置测定步骤中，向配置于所述第一区域的所述第一传感器照射所述激光来测定所述第一空间位置，在所述第一照射位置测定步骤中，由配置于所述第一区域的所述第一传感器测定所述第一照射位置，在所述第二空间位置测定步骤中，向从所述第一区域移动到所述第二区域并配置于所述第二区域的所述第一传感器照射所述激光，来测定所述第二空间位置，在所述第二照射位置测定步骤中，由配置于所述第二区域的所述第一传感器测定所述第二照射位置。