[发明专利]一种光学信息检测方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202010697772.0 申请日: 2020-07-20
公开(公告)号: CN111986154A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 杨鹏;李文建;王兆民 申请(专利权)人: 深圳奥比中光科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/60;G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 叶思
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 信息 检测 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种光学信息检测方法,其特征在于,包括:

获取第一成像模组采集的第一图像,所述第一图像包括目标全场投影图案;

对所述第一图像进行特征提取,得到第一特征信息;

获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息,所述图形信息包括零级信息和/或次级信息;

计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系;

根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案,得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息;

根据所述第二图形信息,计算目标光学信息。

2.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点,所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点;

所述计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系,包括:

计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系;

根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系,确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。

3.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述目标光学信息包括所述目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。

4.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,投影所述目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件,所述光源为多个垂直腔面发射激光器VCSEL组成的阵列;

所述目标光学信息包括所述衍射光学元件与所述光源的相对偏转信息和/或所述阵列的VCSEL缺失情况信息。

5.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述第一特征信息包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

6.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述第二特征信息包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

7.如权利要求1所述的光学信息检测方法,其特征在于,所述目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角;

所述根据所述第二图形信息,计算目标光学信息,包括:

获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案;

计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系;

根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案,得到所述第二标定图案的第三图形信息;

根据所述第三图形信息,计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

8.一种光学信息检测装置,其特征在于,包括:

第一获取单元,用于获取第一成像模组采集的第一图像,所述第一图像包括目标全场投影图案;

提取单元,用于对所述第一图像进行特征提取,得到第一特征信息;

第二获取单元,用于获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息,所述图形信息包括零级信息和/或次级信息;

第一计算单元,用于计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系;

第一处理单元,用于根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案,得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息;

第二计算单元,用于根据所述第二图形信息,计算目标光学信息。

9.一种光学信息检测设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

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