[发明专利]位姿检测方法及系统

权利要求书

1.位姿检测方法，其特征在于，包括：

检测待检测元件并生成检测信号；

通过所述检测信号触发二维检测器件并对所述待检测元件的位置信息、姿态信息进行检测；

根据所述位置信息调整三维检测器件的位置，以检测所述待检测元件的立体信息；

根据所述姿态信息、所述立体信息判断所述待检测元件是否为不良元件，并生成不良元件的位置信息；

根据所述不良元件的位置信息对所述不良元件进行剔除。

2.根据权利要求1所述的位姿检测方法，其特征在于，还包括：

对所述待检测元件进行检测并生成第一平面点云数据；

根据所述第一平面点云数据提取平面矫正矩阵；

通过所述平面矫正矩阵对所述第一平面点云数据进行平面矫正并生成第二平面点云数据。

3.根据权利要求2所述的位姿检测方法，其特征在于，还包括：

根据所述第二平面点云数据生成二值灰度图像；

对所述二值灰度图像进行区域划分以生成若干单连通区域；

将若干所述单连通区域进行遍历分析并生成每一个单连通区域的偏差值；

对所述偏差值与预设阈值进行比较以判断所述待检测元件是否为不良元件。

4.根据权利要求3所述的位姿检测方法，其特征在于，所述预设阈值包括：

第一坐标误差阈值、第二坐标误差阈值、角度误差阈值；

其中，所述第一坐标误差阈值表示横坐标下允许的误差值，所述第二坐标误差阈值表示纵坐标下允许的误差值，所述角度误差阈值表示Dice姿态允许的角度误差值。

5.位姿检测系统，其特征在于，包括：

触发传感器，用于检测待检测元件并生成检测信号；

二维检测器件，接收所述检测信号并检测所述待检测元件的位置信息、姿态信息；

三维检测器件，检测所述待检测元件的立体信息；

姿态分析器，用于根据所述姿态信息、所述立体信息判断所述待检测元件是否为不良元件，并生成所述不良元件的位置信息；

剔除装置，根据所述不良元件的位置信息对所述不良元件进行剔除。

6.根据权利要求5所述的位姿检测系统，其特征在于，所述二维检测器件包括：

环形光源，用于提供照明光源；

二维相机，用于采集所述待检测元件的位置信息、姿态信息。

7.根据权利要求5所述的位姿检测系统，其特征在于，所述三维检测器件包括：

激光模组，用于提供检测光束，所述检测光束照射至所述待检测元件的表面并发生反射；三维相机，用于接收反射后的所述检测光束；

支架，用于固定所述激光模组与所述三维相机的相对位置。

8.根据权利要求7所述的位姿检测系统，其特征在于，所述三维检测器件还包括：

第一轴向驱动装置，用于驱动所述三维检测器件沿第一轴向移动；

第二轴向驱动装置，用于驱动所述三维检测器件沿第二轴向移动；

编码器，用于对所述待检测器件进行同步数据扫描。

9.根据权利要求5所述的位姿检测系统，其特征在于，所述剔除装置包括：

机械臂，根据所述不良元件的位置信息对所述不良元件进行定位剔除。