[发明专利]自由曲面零件测量序列生成方法、装置、设备、存储介质有效
申请号: | 202010589029.3 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN111859484B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 张玉彦;陈培;王超 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/10 | 分类号: | G06F30/10;G01B21/00 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 孙玉营 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自由 曲面 零件 测量 序列 生成 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种自由曲面零件测量序列生成方法,其特征在于,包括如下步骤:
将测量任务进行分割,得到多个子任务;
对每个子任务起一个进程且在每个进程中采用PSO算法对子任务进行计算,得到子任务的最优测量序列即子序列;
将每个子序列作为一个节点,对所有子序列通过PSO算法进行计算生成全局测量序列;
其中,将测量任务进行分割,得到多个子任务的步骤具体包括:
计算所有测量任务的待测点在CAD模型的坐标平均值;
根据待测点距中心点的距离进行排序形成待测点序列;
在待测点序列内按顺序取设定数量的待测点将所有测量任务的待测点分割为不同的子任务;
在待测点序列内按顺序取设定数量的待测点将所有测量任务的待测点分割为不同的子任务的步骤中包括:
在待测点序列内取前NP/N个点划分为子任务1;取排序在NP/N+1到NP/N*2的点划分为子任务2,依此类推,子任务i取排序在NP/N*(i-1)+1到NP/N*i的点;其中,NP为待测点总数,N为子任务数。
2.根据权利要求1所述的自由曲面零件测量序列生成方法,其特征在于,对每个子任务起一个进程且在每个进程中采用PSO算法对子任务进行计算,得到子任务的最优测量序列即子序列的步骤包括:
对每个子任务起一个进程并在每个进程中采用PSO算法对子任务进行计算;
每个子任务中,采用多线程技术分布式计算个体适应度,得到子任务的最优测量序列即子序列。
3.根据权利要求2所述的自由曲面零件测量序列生成方法,其特征在于,每个子任务中,采用多线程技术分布式计算个体适应度,得到子任务的最优测量序列即子序列的步骤包括:
每个子任务中,采用多线程技术分布式计算个体适应度;
对个体适应度进行评价得到最优个体即子序列。
4.一种自由曲面零件测量序列生成装置,其特征在于,包括任务分割模块、计算模块和全局测量序列生成模块;
任务分割模块,用于将测量任务进行分割,得到多个子任务;
计算模块,用于对每个子任务起一个进程且在每个进程中采用PSO算法对子任务进行计算,得到子任务的最优测量序列即子序列;
全局测量序列生成模块,用于将每个子序列作为一个节点,对所有子序列通过PSO算法进行计算生成全局测量序列;
任务分割模块包括坐标值计算单元、待测点序列生成单元、分割单元;
坐标值计算单元,用于计算所有测量任务的待测点在CAD模型的坐标平均值;
待测点序列生成单元,用于根据待测点距中心点的距离进行排序形成待测点序列;
分割单元,用于在待测点序列内按顺序取设定数量的待测点将所有测量任务的待测点分割为不同的子任务;
分割单元,用于在待测点序列内取前NP/N个点划分为子任务1;取排序在NP/N+1到NP/N*2的点划分为子任务2,依此类推,子任务i取排序在NP/N*(i-1)+1到NP/N*i的点;其中,NP为待测点总数,N为子任务数。
5.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器和所述处理器通过总线完成相互间的通信;所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令,所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1至3任一所述的自由曲面零件测量序列生成方法。
6.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述自由曲面零件测量序列生成方法。
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