[发明专利]楼宇高空抛物点盲视量化取证方法和系统有效

专利信息
申请号: 202010549820.1 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111669551B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 徐浦;李泽雄 申请(专利权)人: 深圳市金安通电子有限公司
主分类号: H04N7/18 分类号: H04N7/18;G06T7/70
代理公司: 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 代理人: 戴丽伟
地址: 518000 广东省深圳市龙华新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 楼宇 高空 抛物点盲视 量化 取证 方法 系统
【权利要求书】:

1.楼宇高空抛物点盲视量化取证方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:设置于楼宇顶部右犄角并朝向楼宇左侧和地面的第一摄像头(1)和设置于楼宇顶部左犄角并朝向楼宇右侧和地面的第二摄像头(2)分别拍摄到抛物视频;

S2:将所述第一摄像头拍摄到的抛物视频逐帧描点叠加获得第一抛物影像轨迹,将所述第二摄像头拍摄到的抛物视频逐帧描点叠加获得第二抛物影像轨迹;

S3:在所述第一抛物影像轨迹中获得从贴墙成像面(7)上的抛物点(D)到第一摄像头位置(A)确定的第一直线(DA)与水平方向所成的第一夹角(α),在所述第二抛物影像轨迹中获得从贴墙成像面上的抛物点(D)到第二摄像头位置(B)确定的第二直线(DB)与水平方向所成的第二夹角(β);

S4:在贴墙成像面(7)上根据第一夹角(α)、第二夹角(β)、第一摄像头位置(A)的坐标和第二摄像头位置(B)的坐标求解抛物点(D)的坐标;

S5:根据贴墙成像面(7)上的抛物点(D)的坐标,判断实际抛物点是否位于外墙凹进面(8),若否,则直接确定实际抛物点坐标即为贴墙成像面(7)上的抛物点(D)的坐标,若是,则根据贴墙成像面(7)上所述抛物点(D)的坐标以及所述第一抛物影像轨迹或所述第二抛物影像轨迹求解在抛物线成像面(5)上的抛物线(3)的解析表达式,将外墙凹进数值代入所述抛物线(3)的解析表达式求解在抛物线成像面(5)上位于外墙凹进面(8)上的实际抛物点(C)坐标。

2.如权利要求1所述的楼宇高空抛物点盲视量化取证方法,其特征在于,步骤S3中,通过摄像头视野中的图像来标定并确定所述第一夹角(α)和所述第二夹角(β)。

3.如权利要求1所述的楼宇高空抛物点盲视量化取证方法,其特征在于,步骤S4中,根据所述第一夹角(α)和所述第一摄像头位置(A)设立所述第一直线(DA)的点斜式方程,根据所述第二夹角(β)和所述第二摄像头位置(B)设立所述第二直线(DB)的点斜式方程,联立所述第一直线(DA)的点斜式方程与所述第二直线(DB)的点斜式方程求解得到所述抛物点(D)的坐标。

4.如权利要求1所述的楼宇高空抛物点盲视量化取证方法,其特征在于,步骤S5中,所述根据贴墙成像面(7)上所述抛物点(D)的坐标以及所述第一抛物影像轨迹或所述第二抛物影像轨迹求解在抛物线成像面(5)上的抛物线(3)的解析表达式具体为:首先根据所述抛物点(D)的坐标确定所述抛物线(3)在所述抛物点(D)附近的实际位置与其在摄像头视野中位置的比例关系,然后在所述第一抛物影像轨迹或所述第二抛物影像轨迹上的所述抛物点(D)附近选取三个点并根据该比例关系确定这三个点在所述抛物线成像面(5)上的坐标,最后设立在抛物线成像面(5)上的抛物线(3)的一元二次函数,将三个点的坐标分别代入所述一元二次函数联立求解所述一元二次函数的三个系数,得到在抛物线成像面(5)上的抛物线(3)的解析表达式。

5.如权利要求4所述的楼宇高空抛物点盲视量化取证方法,其特征在于,步骤S5还包括:在实际抛物点位于所述外墙凹进面(8)的情况下,获取实际抛物落点(F)在地面平面的坐标,根据所述贴墙成像面(7)上的抛物点(D)投影到地面平面的坐标以及所述实际抛物点(C)投影到地面平面的坐标,计算获得斜向修正抛物点(G)的坐标。

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