[发明专利]设备中磁性编码器精度检测方法及电子设备

权利要求书

1.一种设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，所述设备中磁性编码器精度检测方法包括：

在对第一设备中的第一磁性编码器的精度进行检测时，获取所述第一设备的旋转部件在当前角度下的所述第一磁性编码器的输出参数，得到第一输出参数，其中，所述第一磁性编码器用于测量所述第一设备的旋转部件的角位移；

将所述第一设备的旋转部件从当前角度开始沿所述第一磁性编码器的测量方向进行旋转，每旋转指定度数便读取所述第一磁性编码器的输出参数，得到多个第二输出参数；

根据所述第一输出参数及各所述第二输出参数，计算所述第一设备的旋转部件每旋转所述指定度数时所述第一磁性编码器输出参数的差值，作为各输出参数差值；

计算各所述输出参数差值的绝对偏差；其中，各所述输出参数差值的绝对偏差为：将各所述输出参数差值取均值得到均值差值，分别计算各输出参数差值与所述均值差值的差；

按照各所述绝对偏差的数值，统计各预设偏差档位区间内包括的所述绝对偏差的数量；所述预设偏差档位区间是利用第二设备的第二磁性编码器的各绝对偏差得到的，所述预设偏差档位区间为数值连续的数值区间，各预设偏差档位区间的数值区间是连续的，各预设偏差档位区间的总数值区间范围能够覆盖第二设备的第二磁性编码器的各绝对偏差；

根据所述绝对偏差的总数量，以及各预设偏差档位区间内包括的所述绝对偏差的数量，得到各预设偏差档位区间下的绝对偏差的分布概率，作为第一数据；

将所述第一数据与预设的第二数据进行比较，得到误差，其中，所述第二数据是根据第二磁性编码器的参数差值得到的，所述参数差值为第二设备的旋转部件沿所述第二磁性编码器的测量方向旋转所述指定度数之前与之后所述第二磁性编码器输出参数的差值，所述第二磁性编码器用于测量所述第二设备的旋转部件的角位移，所述第二设备与所述第一设备型号相同，且所述第二磁性编码器的测量精度满足预设精度标准要求；

若所述误差在预设误差范围内，判定所述第一磁性编码器的精度达标。

2.根据权利要求1所述的设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，在所述将所述第一数据与预设的第二数据进行比较之前，所述设备中磁性编码器精度检测方法还包括：

获取所述第一设备当前的环境参数，其中，所述环境参数包括电压及温度中的至少一种；

获取所述当前的环境参数所对应的预设的第二数据。

3.根据权利要求2所述的设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，所述设备中磁性编码器精度检测方法还包括：

利用光电编码器测量得到第二磁性编码器测量精度满足预设精度标准要求的第二设备，其中，所述光电编码器的精度为要求的第一磁性编码器的精度的2倍及以上；

在多种预设环境参数下，分别将所述第二设备的旋转部件沿第二磁性编码器的测量方向旋转所述指定度数，获取旋转所述指定度数之前与之后所述第二磁性编码器输出参数的差值，得到各预设环境参数所对应的第二数据。

4.根据权利要求1所述的设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，所述误差包括多个数值，所述若所述误差在预设误差范围内，判定所述第一磁性编码器的精度达标，包括：

若所述误差的各数值均在所述预设误差范围内，判定所述第一磁性编码器的精度达标。

5.根据权利要求1所述的设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，所述当前角度为所述第一设备的旋转部件的初始角度，所述将所述第一设备的旋转部件从当前角度开始沿所述第一磁性编码器的测量方向进行旋转，每旋转所述指定度数便读取所述第一磁性编码器的输出参数，得到多个第二输出参数，包括：

将所述第一设备的旋转部件从所述初始角度开始沿所述第一磁性编码器的测量方向匀速旋转，每旋转所述指定度数便读取所述第一磁性编码器的输出参数，直至旋转至所述第一设备的旋转部件的最大旋转角度，得到多个第二输出参数。

6.根据权利要求1所述的设备中磁性编码器精度检测方法，其特征在于，所述设备中磁性编码器精度检测方法还包括：

在所述第一设备上电阶段，触发对所述第一设备中的第一磁性编码器的精度进行检测。