[发明专利]液晶设备及其像素检查方法、以及波长选择光开关装置

说明书

本发明提供一种适于在抑制电路规模增大的同时执行像素的检查的液晶设备及其像素检查方法、以及波长选择光开关装置。液晶显示装置(1)具备将相同列中相邻的两个像素(12_u、12_d)作为一对像素对而构成多个像素对的多个像素(12)，在各像素对中，晶体管(Tr9_u)、晶体管(Tr9_d)根据共用的读出用开关选择信号进行导通断开的控制，该晶体管(Tr9_u)切换是否将写入到一个像素(12_u)的影像信号的电压输出到对应的数据线，晶体管(Tr9_d)切换是否将写入到另一个像素(12_d)的影像信号的电压输出到对应的数据线。

技术领域

本发明涉及液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法，涉及适于在抑制电路规模增大的同时执行像素检查的液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法。

背景技术

专利文献1所公开的液晶显示装置包括：配置成矩阵状的多个像素；与多个像素的各列对应设置的多组数据线；与多个像素的各行对应设置的多个栅极线；用于对多组数据线以组为单位依次提供正极性和负极性影像信号的多个开关；以及驱动多个开关和多个栅极线的驱动单元。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-223289号公报。

发明内容

发明要解决的问题

然而，在液晶显示装置中，为了提高可靠性，例如要求在产品出厂前检查像素是否有缺陷或特性劣化。

但是，在专利文献1中，没有公开关于像素的检查方法的具体内容。因此，在专利文献1所公开的液晶显示装置中，当要组装用于检查像素的检查电路时，由于用于像素检查的控制信号线增加，布线会变得拥挤。若为了避免该布线拥挤而充分增大布线间隔，则存在像素间距变大、结果电路规模增大的问题。

本发明是鉴于以上问题而完成的，其目的在于提供一种适于在抑制电路规模的增大的同时执行像素检查的液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法。

用于解决问题的手段