[发明专利]比率类检测方法以及相关设备在审
| 申请号: | 202010453852.1 | 申请日: | 2020-05-26 |
| 公开(公告)号: | CN113722664A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
| 发明(设计)人: | 杨思晓;苏婵菲;潘璐伽 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F17/15 | 分类号: | G06F17/15;G06F17/18;G06F7/535;G06F17/10 |
| 代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 聂秀娜 |
| 地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 比率 检测 方法 以及 相关 设备 | ||
1.一种比率类检测方法,其特征在于,包括:
数据处理设备获取比率类数据和数量类数据,所述比率类数据包括参考比率类数据和目标比率类数据,所述数量类数据包括参考数量类数据和目标数量类数据,所述目标比率类数据和所述目标数量类数据为待判断的目标时间段的数据;
所述数据处理设备计算第一参数,所述第一参数根据比率类数据得到;
所述数据处理设备根据数量类数据修正第一参数得到第二参数;
所述数据处理设备根据第二参数确定所述目标比率类数据是否异常。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一参数包括比率类分数和/或残差;
所述比率类分数的计算方式包括:
其中,所述zscore(xt)为所述比率类分数,所述[xt-w,xt-w+1,...xt-1]为所述参考比率类数据,mean()为平均值函数,std()为标准差函数,所述xt为所述目标比率类数据;
所述残差的计算方式包括:
residual(xt)=mean([xt-w,xt-w+1,...xt-1])-xt;
其中,所述residual(xt)为残差,所述[xt-w,xt-w+1,...xt-1]为所述参考比率类数据,mean()为平均值函数,所述xt为所述目标比率类数据。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述数据处理设备根据数量类数据修正第一参数得到第二参数包括:
当所述第一参数为所述比率类参数时,所述数据处理设备计算数量类分数;
所述数据处理设备根据数量类分数修正所述第一参数得到所述第二参数;
所述数量类分数的计算方式包括:
其中,所述zscore(uct)为所述数量类分数,所述uct为所述目标数量类数据,所述[uct-w,uct-w+1,...,uct-1]为所述参考比率类数据;
所述修正方式包括:
所述为所述第二参数,所述α为大于零小于1的实数;
当所述第一参数为所述残差时,所述数据处理设备根据数量类数据修正第一参数得到第二参数的方式包括:
所述为所述第二参数,所述为所述比率类数据的平均值,所述为所述参考数量类数据的平均值。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述数据处理设备根据第二参数确定所述目标比率类数据是否异常包括:
若所述第二参数小于异常阈值,所述数据处理设备确定所述目标比率类数据正常;
若所述第二参数不小于异常阈值,所述数据处理设备确定所述目标比率类数据异常。
5.一种数据处理设备,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取比率类数据和数量类数据,所述比率类数据包括参考比率类数据和目标比率类数据,所述数量类数据包括参考数量类数据和目标数量类数据,所述目标比率类数据和所述目标数量类数据为待判断的目标时间段的数据;
计算单元,用于计算第一参数,所述第一参数根据比率类数据得到;
修正单元,用于根据数量类数据修正第一参数得到第二参数;
确定单元,用于根据第二参数确定所述目标比率类数据是否异常。
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