[发明专利]一种MoV合金薄膜的制备方法有效
申请号: | 202010443555.9 | 申请日: | 2020-05-22 |
公开(公告)号: | CN111424251B | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 赵婧;赵彬;潘晓龙;田丰;吴金平;邱龙时;张于胜 | 申请(专利权)人: | 西安稀有金属材料研究院有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/16;C23C14/02;C23C14/50;C23C14/58 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 马小燕 |
地址: | 710016 陕西省西安市西安经济*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mov 合金 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,先采用磁控溅射共沉积法制备沉积态的MoV合金薄膜,然后经高真空623K退火处理,得到MoV合金薄膜,所述MoV合金薄膜的制备方法包括以下步骤:
步骤一、将单面抛光的单晶Si(100)基片进行清洁处理,然后放置于超高真空磁控溅射设备的基片台上,再将Mo靶材、V靶材安置在超高真空磁控溅射设备的靶材座上,且Mo靶材连接直流电源,V靶材连接射频电源;
步骤二、打开基片台的旋转按钮,使步骤一中放置在基片台上的单晶Si(100)基片旋转,同时打开偏压电源,对基片台施加负偏压,然后打开控制Mo靶材的直流电源和控制V靶材的射频电源,并通过调节直流电源和射频电源的溅射功率控制Mo、V的原子配比,使Mo靶材、V靶材溅射出的Mo粒子、V粒子共沉积在单晶Si(100)基片的抛光面上,形成沉积态的MoV合金薄膜;所述直流电源的单靶溅射功率为100W,射频电源的单靶溅射功率为5W~9W,所述Mo和V的原子配比为(95.5~97.7):(2.3~4.5);
步骤三、将步骤二中形成的沉积态的MoV合金薄膜放置于真空退火炉中,并将真空退火炉中的压力调节至高真空状态,然后升温至623K保温30min,再随炉冷却,得到MoV合金薄膜;所述MoV合金薄膜的厚度为1μm~1.2μm。
2.根据权利要求1所述的一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,步骤一中所述清洁处理的过程为:将单面抛光的单晶Si(100)基片依次采用丙酮和无水乙醇分别超声清洗30min,然后采用去离子水清洗10min至洁净,再用吹风机从洁净的单晶Si(100)基片的非抛光面进行吹干。
3.根据权利要求1所述的一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,步骤一中所述Mo靶材和V靶材的质量纯度为99.99%。
4.根据权利要求1所述的一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,步骤二中所述单晶Si(100)基片旋转的速度为1圈/分钟,负偏压为80V。
5.根据权利要求1所述的一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,步骤二中所述Mo粒子、V粒子共沉积的过程为:采用每沉积15min间歇5min的模式循环8次。
6.根据权利要求1所述的一种MoV合金薄膜的制备方法,其特征在于,步骤三中所述高真空状态的压力为1×10-6Pa。
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