[发明专利]集成电路芯片的检测方法

说明书

本发明公开一种集成电路芯片的检测方法，包括底板、电机、固定板和活动板，所述电机安装于固定板或活动板的外侧，底板与活动板之间设置有滑板，电机的输出端上连接有转轴，转轴的一端安装有主齿轮，主齿轮与电机之间的转轴上安装有副齿轮，所述固定板、活动板各自相对的一侧均设置有转动盘，转动盘与副齿轮之间通过一个卡带传动连接，转动盘与主齿轮之间通过另一个卡带传动连接，卡带的外壁上设置有安装卡槽，活动板之间通过推板连接，推板的外侧设置有安装架，安装架上安装有第一气缸，所述安装架上还设置有第二气缸，此第二气缸的推杆上连接有一CCD相机。本发明解决了无法检测不同规格的芯片和无法精准拍摄芯片的问题。

技术领域

本发明涉及一种集成电路芯片的检测方法，属于集成电路检测技术领域。

背景技术

集成电路（integrated circuit）是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，它在电路中用字母“IC”表示，集成电路发明者为杰克•基尔比（基于锗（Ge）的集成电路）和罗伯特•诺伊思（基于硅（Si）的集成电路），当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，集成电路芯片是集成电路的核心部件，在各部件连接在电路板上后，要对集成电路芯片进行检测。

现有的检测装置都是通过摄像头对芯片进行拍摄，摄像头在将检测图片传递到芯片检测单元内，通过芯片检测单元对图片进行处理来判断芯片是否合格，能够有效的节省人力物力，但是检测装置在使用时不能够对不同规格的芯片进行检测，使用效率差，而且摄像头不便使用，无法精准的对芯片进行拍摄。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种集成电路芯片的检测方法，该集成电路芯片的检测方法解决了无法检测不同规格的芯片和无法精准拍摄芯片的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种集成电路芯片的检测方法，所述检测方法基于一检测装置，此检测装置包括底板、安装于底板上表面的电机、若干个间隔设置于底板上表面的固定板和若干个分别与固定板面对面设置的活动板，所述电机安装于固定板或活动板的外侧，所述底板与活动板之间设置有一滑板，所述活动板的下表面可活动地安装于滑板上，从而使得活动板可沿靠近或远离固定板方向移动；

相对设置的固定板与活动板之间连接有一限位轴，所述活动板靠近固定板的一侧表面上具有一朝向固定板的凸管，此凸管中央开有供限位轴嵌入的通孔，所述限位轴的一端嵌入固定板内，并与固定板转动连接，此限位轴的另一端嵌入凸管上的通孔内，并可以在通孔内滑动；

所述电机的输出端上连接有一转轴，此转轴远离电机的一端安装有一主齿轮，此主齿轮与电机之间的转轴上安装有一副齿轮，所述固定板、活动板各自相对的一侧均设置有一转动盘，位于固定板一侧的转动盘可转动地安装于限位轴上，位于活动板一侧的转动盘可转动地套装于凸管外侧，位于同一侧的若干个转动盘与副齿轮之间通过一个卡带传动连接，位于另一侧的若干个转动盘与主齿轮之间通过另一个卡带传动连接，所述卡带的外壁上设置有若干个供安装集成芯片的安装卡槽；

若干个所述活动板之间通过一推板连接，此推板位于活动板相背于固定板外侧，所述推板的外侧设置有一安装架，此安装架上安装有一第一气缸，此第一气缸的输出端与推板固定连接，所述安装架上还设置有一第二气缸，所述第二气缸的推杆横跨于卡带上方，且此第二气缸的推杆上连接有一CCD相机，此CCD相机通过导线与安装于安装架上的芯片检测单元接通；

所述检测方法包括以下步骤：

步骤一、将装置与外界的电源接通，使装置能正常运行；

步骤二、启动第一气缸，调整相对安装卡槽之间的距离以匹配待检测集成芯片的尺寸；

步骤三、将集成芯片安装到安装卡槽内；

步骤四、启动电机，将集成芯片移动至检测位置；