[发明专利]一种大尺寸LCD显示模组机器视觉检查方法与系统在审

专利信息
申请号: 202010317017.5 申请日: 2020-04-21
公开(公告)号: CN111474748A 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 肖学军;刘品德;陈显锋 申请(专利权)人: 苏州佳智彩光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 代理人: 罗志伟
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 尺寸 lcd 显示 模组 机器 视觉 检查 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种大尺寸LCD显示模组机器视觉检查方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、图像校准,采用高分辨率的相机拍照前,对拍照图片进行校准,通过精密运动机构调整相机位置和角度,使屏幕照片分辨率和屏幕实际分辨率达到3:1,消除相机芯片采样和屏幕信号的高频干扰;

S2、图像采集,采用高分辨率的相机获取多张不同情况下LCD屏幕的照片;

步骤S2包括以下子步骤:

S21、打开除灰灯,不点亮屏幕,拍摄Dust图像GD

S22、除灰灯不亮,屏幕点亮,颜色为白色,拍摄白色ROI定位图像GROI,用于提取检测区域;

S23、将屏幕分别点亮并显示画面为白色(最高灰阶)、128灰度、64灰度、黑色、R红、G绿、B蓝,拍摄检测图像,分别表示为G1,G2,G3,G4,G5,G6,G7

S3、缺陷检测,对照片进行缺陷相关的图像处理,综合分析输出最终检测结果;

步骤S3包括以下子步骤:

S31、通过白色ROI定位图像GROI,获取几何变换矩阵M,得到各检测图像的待检测区域RGi

RGi=M*Gi,,Gi∈{GD,G1,G2,G3,G4,G5,G6,G7};

S32、定位Dust图像GD中的灰尘,亮点为灰尘,并记录其位置信息:

S33、利用白色检测图像G1,检测LCD的背光和暗点,标记为可疑瑕疵M1,记录其位置信息:

S34、利用128灰度G2、64灰度图像G3,检测LCD的亮点或暗点,标记为可疑瑕疵M2、M3,记录其位置信息:

S35、利用黑色图像G4,检测LCD的亮点,标记为可疑瑕疵M4,记录其位置信息:

S36、利用R、G、B各通道图像G5,G6,G7,检测LCD的亮点或暗点,标记为可疑瑕疵M4、M6、M7,记录其位置信息:

S37、将检测图像G1,G2,G3,G4,G5,G6,G7相互对比,重复记录的瑕疵位置认为是同一个瑕疵,记录一次即可;

MG=M1∩M2∩M3∩M4∩M5∩M6∩M7

S38、将检测图像瑕疵MG与图像GD中灰尘D进行对比,位置相同的,记为灰尘,忽略不计,因此LCD屏检测的瑕疵为:

M=MG-D;

将剩下的7张检测图像瑕疵M合并成一张,得到最终的检测结果。

2.一种大尺寸LCD显示模组机器视觉检查系统,其特征在于:包括可读存储介质,所述可读存储介质中存储有执行指令,所述执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1所述的方法。

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