[发明专利]射电星表与红外星表交叉证认方法、装置及可读存储介质有效
申请号: | 202010280433.2 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111414572B | 公开(公告)日: | 2023-06-13 |
发明(设计)人: | 樊东卫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台 |
主分类号: | G06F17/10 | 分类号: | G06F17/10;G06F17/15;G01V11/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100012 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射电 外星 交叉 证认 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种射电星表与红外星表的交叉证认方法,其特征在于,包括:
根据候选射电源组合和预设几何模型,获取所述候选射电源组合的似然值,其中所述预设几何模型为包括一个红外源、一个射电核以及两个喷流瓣的直线非对称几何模型;
通过所述似然值获取与所述候选射电源组合对应的贝叶斯因子的待证认集合;以及
对所述待证认集合进行整数线性优化处理,获取交叉证认结果;
其中,所述候选射电源组合的似然值满足如下公式:
其中,φ为第一喷流瓣相对第二喷流瓣的角度偏转量,p(φ)为一维正态分布概率密度函数,x0为所述候选射电源组合对应的红外源参数,y0为所述候选射电源组合对应的射电核参数,y1为所述第一喷流瓣参数,y2为所述第二喷流瓣参数,m0为所述红外源和射电核的实际坐标,m1为所述第一喷流瓣的实际坐标,m2为所述第二喷流瓣的实际坐标,其中k为伸缩比例,p(k)为一维正态分布概率密度函数,p(m0)=1/4π,p(m1|m0)为第一喷流瓣或第二喷流瓣的近似距离分布的瑞利函数,该瑞利函数的输入参数|m1-m0|为m1与m0的距离,Lx0、Ly0、Ly1、Ly2为二维正态分布概率密度函数g,g中的∑x0对应的是x0的测量误差,∑y0、∑y1、∑y2则是相应y0、y1、y2的测量误差。
2.根据权利要求1所述的交叉证认方法,其特征在于,
所述候选射电源组合中的候选射电源为以红外源坐标为中心,在天空中搜索到的与该中心相距一定范围内的射电目标;
其中,所述红外源与所述红外星表中的数据对应,所述射电核及喷流瓣与所述射电星表中的数据对应。
3.根据权利要求2所述的交叉证认方法,其特征在于,所述候选射电源组合是按照核-空-空、核-瓣-空、空-瓣-瓣以及核-瓣-瓣四种组合方式之一进行组合。
4.根据权利要求1所述的交叉证认方法,其特征在于,所述通过所述似然值获取与所述候选射电源组合对应的贝叶斯因子的待证认集合,包括:
获取所述候选射电源组合的似然值对应的贝叶斯因子,所述贝叶斯因子B满足如下公式:
B=(4π)(n+1)*p(Core,Lobe,Lobe)
其中,p(Core,Lobe,Lobe)为所述候选射电源组合的似然值,n为有效射电成分参数的个数;
根据所述候选射电源组合的贝叶斯因子B获取所述待证认集合。
5.根据权利要求1所述的交叉证认方法,其特征在于,所述对所述待证认集合进行整数线性优化处理,获取交叉证认结果,包括:
基于整数线性优化函数库,建立优化模型;
针对每一个所述贝叶斯因子,在优化模型中新增一个优化变量,所述优化变量的值为0或1,权重为对应所述贝叶斯因子的相反数。
6.根据权利要求5所述的交叉证认方法,其特征在于,所述对所述待证认集合进行整数线性优化处理,获取交叉证认结果,还包括:
依据限制条件获取所述优化变量的和值,所述限制条件为包含同一射电核或红外源的变量值之和不大于1;
调用所述整数线性优化函数库对所述和值进行实际优化处理,依据所述实际优化处理结果获取对应的候选射电源组合,即交叉证认结果。
7.一种射电星表与红外星表交叉证认装置,用于实现权利要求1-6中任一项所述的射电星表与红外星表交叉证认方法。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有可执行指令,其特征在于,所述可执行指令被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的射电星表与红外星表交叉证认方法。
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