[发明专利]一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统

说明书

本发明涉及产品质量检测技术领域，公开一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，该产品表面质量检测方法，包括：获取第一图像，其中，第一图像为包含产品的待检测表面在内的图像；根据第一图像得到掩模图像；利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；对第二图像进行去噪，得到第三图像；使第二图像和第三图像相减得到第四图像；计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断产品的待检测表面质量是否合格。以上过程中，无需人工利用肉眼对产品进行检测，效率提高。

技术领域

本发明涉及产品质量检测技术领域，特别涉及一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统。

背景技术

在生产制造过程中，常需要对一些产品表面质量进行检测，以判断是否合格。例如，用来制造电机定子铁心的矽钢片对于电机的可靠性具有关键性影响，其表面通常具有划痕等缺陷，为此，需要进行严格的检测，以判断矽钢片质量是否合格。在现有技术中通常通过人的肉眼对上述缺陷进行识别，效率十分低下。

发明内容

本发明公开了一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，用于提升对产品表面质量进行检测的效率。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种产品表面质量检测方法，包括：

获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；

根据所述第一图像得到掩模图像；

利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；

对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；

使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；

计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。

可选地，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，还包括：

对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。

可选地，所述根据所述第一图像得到掩模图像，具体包括：

将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。

可选地，所述利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像，具体包括：

使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。

可选地，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：

对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。

可选地，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：

根据所述所得图像中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。

在上述产品表面质量检测方法中，通过对包含产品的待检测表面在内的第一图像进行处理得到掩膜图像，利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，得到第二图像，再对第二图像进行去噪得到第三图像，第三图像中划痕等缺陷会缩小甚至消失，再使第二图像与第三图像相减，这样就得到仅显示缺陷影像的所得图像，此时可以计算所得图像中缺陷的数量和/或面积，来判断产品表面质量是否合格。从而，免去人工使用肉眼判断产品表面是否合格的麻烦，提升检测效率。

一种产品表面质量检测设备，包括：