[发明专利]一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统

权利要求书

1.一种产品表面质量检测方法，其特征在于，包括：

获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；

根据所述第一图像得到掩模图像；

利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；

对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；

使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；

计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，还包括：

对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像得到掩模图像，具体包括：

将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像，具体包括：

使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：

对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：

根据所述所得图像中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。

7.一种产品表面质量检测设备，其特征在于，包括：

图像处理单元，用于根据图像获取单元获取的第一图像得到掩模图像，利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，以获得第二图像，对所述第二图像进行去噪，得到第三图像，使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像，计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。

8.根据权利要求7所述的产品表面质量检测设备，其特征在于，所述图像处理单元还用于，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。

9.根据权利要求7所述的产品表面质量检测设备，其特征在于，所述图像处理单元具体用于：

将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。

10.根据权利要求7所述的产品表面质量检测设备，其特征在于，所述图像处理单元具体用于：

使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。

11.根据权利要求7至10任一项所述的产品表面质量检测设备，其特征在于，所述图像处理单元具体用于：

对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。

12.根据权利要求7至10任一项所述的产品表面质量检测设备，其特征在于，所述图像处理单元具体用于：

根据所述所得中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。

13.一种产品分拣系统，其特征在于，包括：

图像获取单元，用于获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；

权利要求7至12任一项所述的产品表面质量检测设备；

分拣单元，用于对所述产品表面质量检测设备识别出的合格产品和/或不合格产品分拣。