[发明专利]用于检测故障或模型失配的系统和方法

说明书

公开了用于检测故障或模型失配的系统和方法。一种系统包括处理器、存储器和一个或多个传感器。传感器可以检测与电子设备相关联的数据。存储器可以存储处理器可执行指令，以：在时间段内计算T²统计量和Q统计量，并基于T²统计量和Q统计量应用模型失配和故障检测逻辑。模型失配和故障检测逻辑可以：经由T²计数器对T²统计量超过T²阈值的连续实例进行计数，基于T²计数器更新故障的概率，经由Q计数器对Q统计量超过Q阈值的连续实例进行计数，基于Q计数器更新模型失配的概率，以及基于故障概率阈值和模型失配概率阈值来检测故障或模型失配中的一个。

技术领域

本公开一般而言涉及用于基于与电子设备相关联的操作数据来检测故障或模型失配的系统和/或方法，并且更具体而言涉及通过对计算出的模型度量应用模型失配和故障检测逻辑来实时地检测故障或模型失配。

背景技术

用于检测故障的一些系统和方法可以仅从测试数据计算T²统计量(statistic)和/或Q统计量，并且可以将计算出的T²统计量和/或Q统计量与相应的预定阈值进行比较以预测故障。此类系统和方法常常导致假阳性警报的发出并且不能解决非归因于电子设备的错误操作的操作偏差。

发明内容

在一个实施例中，公开了一种系统，该系统包括处理设备、一个或多个传感器以及非暂态处理器可读存储器部件。一个或多个传感器可以通信地耦合到处理设备并且可以相对于电子设备定位以检测与电子设备相关联的操作数据。非暂态处理器可读存储器部件可以存储编程指令，编程指令在由处理设备执行时使处理设备：基于来自一个或多个传感器的操作数据在时间段内计算至少两个模型度量，其中该至少两个模型度量包括T²统计量和Q统计量，以及基于在该时间段内计算出的T²统计量和Q统计量应用模型失配和故障检测逻辑。模型失配和故障检测逻辑可以：经由T²计数器对计算出的T²统计量超过T²阈值的连续实例进行计数，基于T²计数器更新该时间段内与电子设备相关联的故障的概率，经由Q计数器对计算出的Q统计量超过Q阈值的连续实例进行计数，基于Q计数器更新该时间段内与电子设备相关联的模型失配的概率，以及基于故障概率阈值和模型失配概率阈值检测电子设备的故障或模型失配中的一个。

在另一个实施例中，公开了一种系统，该系统包括服务器、车辆、一个或多个传感器以及非暂态处理器可读存储器部件。车辆可以经由计算机网络通信地耦合到服务器。一个或多个传感器可以通信地耦合到车辆并且可以相对于电子设备定位以检测与电子设备相关联的操作数据。非暂态处理器可读存储器部件可以存储编程指令，编程指令在由处理设备执行时使处理设备：基于来自一个或多个传感器的操作数据在时间段内计算至少两个模型度量，其中该至少两个模型度量包括T²统计量和Q统计量，以及基于在该时间段内计算出的T²统计量和Q统计量应用模型失配和故障检测逻辑。模型失配和故障检测逻辑可以：经由T²计数器对计算出的T²统计量超过T²阈值的连续实例进行计数，基于T²计数器更新该时间段内与电子设备相关联的故障的概率，经由Q计数器对计算出的Q统计量超过Q阈值的连续实例进行计数，基于Q计数器更新该时间段内与电子设备相关联的模型失配的概率，以及基于故障概率阈值和模型失配概率阈值检测电子设备的故障或模型失配中的一个。