[发明专利]用于检测故障或模型失配的系统和方法

权利要求书

1.一种系统，包括：

一个或多个传感器，所述一个或多个传感器相对于电子设备定位，以检测与所述电子设备相关联的操作数据；以及

处理设备，所述处理设备可通信地耦合到所述一个或多个传感器并且被配置成：

基于所述操作数据在时间段内计算至少两个模型度量，所述至少两个模型度量包括T²统计量和Q统计量；以及

基于在所述时间段内计算出的T²统计量和Q统计量应用逻辑，其中所述逻辑：

经由T²计数器对计算出的T²统计量超过T²阈值的连续实例进行计数；

基于T²计数器更新所述时间段内与所述电子设备相关联的故障的概率；

经由Q计数器对计算出的Q统计量超过Q阈值的连续实例进行计数；

基于Q计数器更新所述时间段内与所述电子设备相关联的模型失配的概率；以及

在所述T²统计量超过所述T²阈值的多个连续实例导致故障的概率超过故障概率阈值之后并且如果尚未同时检测到模型失配，检测电子设备的故障或模型失配中的一个。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述处理设备还被配置成：

基于预定的分层阈值组动态地修改所述故障概率阈值。

3.如权利要求1所述的系统，其中，在所述Q统计量超过所述Q阈值的多个连续实例导致所述模型失配的概率超过模型失配概率阈值之后，所述逻辑检测到模型失配。

4.如权利要求3所述的系统，其中，所述逻辑还在检测到模型失配之后重新训练与所述电子设备相关联的多变量统计模型，其中所述至少两个模型度量与所述多变量统计模型相关联。

5.一种计算机实现的方法，包括：

由处理设备基于来自相对于电子设备定位的一个或多个传感器的与所述电子设备相关联的操作数据在时间段内计算至少两个模型度量，所述至少两个模型度量包括T²统计量和Q统计量；以及

由所述处理设备基于在所述时间段内计算出的T²统计量和Q统计量应用逻辑，其中所述逻辑：

经由T²计数器对计算出的T²统计量超过T²阈值的连续实例进行计数；

基于T²计数器更新所述时间段内与所述电子设备相关联的故障的概率；

经由Q计数器对计算出的Q统计量超过Q阈值的连续实例进行计数；

基于Q计数器更新所述时间段内与所述电子设备相关联的模型失配的概率；以及

在所述T²统计量超过所述T²阈值的多个连续实例导致故障的概率超过故障概率阈值之后并且如果尚未同时检测到模型失配，检测电子设备的故障或模型失配中的一个。

6.如权利要求5所述的计算机实现的方法，还包括：

至少基于从所述一个或多个传感器接收的操作数据构建主成分分析PCA模型，其中所述至少两个模型度量与所述PCA模型相关联。

7.如权利要求5所述的计算机实现的方法，其中，在所述Q统计量超过所述Q阈值的多个连续实例导致所述模型失配的概率超过模型失配概率阈值之后，所述逻辑检测到模型失配。

8.如权利要求7所述的计算机实现的方法，其中，所述逻辑还在检测到模型失配之后重新训练与所述电子设备相关联的多变量统计模型，其中所述至少两个模型度量与所述多变量统计模型相关联。

9.如权利要求5所述的计算机实现的方法，还包括：

至少基于从所述一个或多个传感器接收到的操作数据构建多变量统计模型，其中所述至少两个模型度量与所述多变量统计模型相关联。

10.如权利要求5所述的计算机实现的方法，还包括：

基于预定的分层阈值组动态地修改所述故障概率阈值。