[发明专利]一种测试机台及芯片测试方法

说明书

本申请提供一种测试机台及芯片测试方法，涉及芯片测试技术领域。测试机台包括：机台外壳；设置于所述机台外壳内部的PCB板；固定安装于所述机台外壳内部的光源装置，所述光源装置的安装方向与所述机台外壳的第一表面成第一预设角度；所述第一表面为出光面，所述出光面上设有出光口，所述光源装置发出的光线从所述出光口透出。本申请提供的测试机台内集成了测试所需的光源装置，集成度高，且由于机台内专门留出了光源结构的空间，光源本身可以做得更大，有利于在机台内放置光质量更好的光源，相较于现有技术中外置的小光源，光信号质量得到提升，同时，还能减少测试时间，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种测试机台及芯片测试方法。

背景技术

CIS(CMOS Image Sensor)芯片是摄像头的关键零部件，CIS芯片通过将光信号转换为数字电信号以捕捉图像信息，其作为摄像头产品的核心芯片，决定着摄像头的成像品质。对CIS芯片的测试是CIS芯片生产环节中的重要一环。现有的对CIS芯片进行测试的测试机台，所使用的光源一般是外置光源，外置光源的放置在PCB板与机台之间不到10公分的空间中，受限于此，使用的外置光源通常较小且较短，光直径也较小，这将直接导致光源的信号质量较差，光源均匀度不够好等问题，无法有效地测试高像素的CIS芯片。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种测试机台及芯片测试方法，用以改善现有技术中存在的光源信号质量差的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种测试机台，包括：

机台外壳；

设置于所述机台外壳内部的PCB板；

固定安装于所述机台外壳内部的光源装置，所述光源装置的安装方向与所述机台外壳的第一表面成第一预设角度；所述第一表面为出光面，所述出光面上设有出光口，所述光源装置发出的光线从所述出光口透出。

在上述技术方案中，测试机台内集成了测试所需的光源装置，集成度高，且由于机台内专门留出了光源结构的空间，光源本身可以做得更大，有利于在机台内放置光质量更好的光源，相较于现有技术中外置的小光源，光信号质量得到提升。同时，更大的光源会带来更大的出射光斑面积，使得单次可测试的芯片数量得到增加，有效减少了测试时间，提高了测试效率。

在一种可能的实施方式中，所述机台外壳的内部还设置有插槽，其中，槽体的延伸方向与所述机台外壳的第一表面成第二预设角度，所述插槽用于插接所述PCB板。在上述技术方案中，在测试机台内部设有插槽，以便于实现PCB板的灵活安装。

在一种可能的实施方式中，所述插槽包括第一插槽和第二插槽，所述第一插槽和所述第二插槽分别固定安装于所述光源装置的两侧，所述机台外壳的内部还设置有第一固定件和第二固定件，所述第一固定件与所述光源装置的一端抵持，所述第二固定件与所述光源装置的另一端抵持，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端固定于第二插槽上。

在上述技术方案中，两个固定件的延伸方向均垂直于第一插槽和第二插槽，利用第一插槽、第二插槽、第一固定件和第二固定件可将光源装置两端牢牢固定。

在一种可能的实施方式中，所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端通过螺钉固定于第一插槽上，所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端通过螺钉固定于第二插槽上。

在一种可能的实施方式中，所述光源装置包括：光源和光源控制器，所述光源控制器与所述光源电连接，所述光源控制器用于控制所述光源发光。