[发明专利]一种测试机台及芯片测试方法在审
申请号: | 202010198793.8 | 申请日: | 2020-03-19 |
公开(公告)号: | CN111208414A | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 张悦 | 申请(专利权)人: | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04;G01M11/04;G01M11/02 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 唐正瑜 |
地址: | 230000 安徽省合肥市经济技术开*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 机台 芯片 方法 | ||
1.一种测试机台,其特征在于,包括:
机台外壳;
设置于所述机台外壳内部的PCB板;
固定安装于所述机台外壳内部的光源装置,所述光源装置的安装方向与所述机台外壳的第一表面成第一预设角度;所述第一表面为出光面,所述出光面上设有出光口,所述光源装置发出的光线从所述出光口透出。
2.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述机台外壳的内部还设置有插槽,其中,槽体的延伸方向与所述机台外壳的第一表面成第二预设角度,所述插槽用于插接所述PCB板。
3.根据权利要求2所述的测试机台,其特征在于,所述插槽包括第一插槽和第二插槽,所述第一插槽和所述第二插槽分别固定安装于所述光源装置的两侧,所述机台外壳的内部还设置有第一固定件和第二固定件,所述第一固定件与所述光源装置的一端抵持,所述第二固定件与所述光源装置的另一端抵持,所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端固定于第一插槽上,所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端固定于第二插槽上。
4.根据权利要求3所述的测试机台,其特征在于,所述第一固定件的第一端和所述第二固定件的第一端通过螺钉固定于第一插槽上,所述第一固定件的第二端和所述第二固定件的第二端通过螺钉固定于第二插槽上。
5.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述光源装置包括:光源和光源控制器,所述光源控制器与所述光源电连接,所述光源控制器用于控制所述光源发光。
6.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述测试机台还包括:
盖板,所述盖板设置于所述出光口的远离机台外壳的一侧,所述盖板用于遮盖所述出光口。
7.根据权利要求6所述的测试机台,其特征在于,所述盖板与所述机台外壳的第一表面可拆卸连接。
8.根据权利要求6所述的测试机台,其特征在于,所述盖板与所述机台外壳的第一表面活动连接。
9.根据权利要求1所述的测试机台,其特征在于,所述机台外壳的第二表面和与第二表面相对的第三表面均分别设置有至少一个通风风扇,所述第二表面和所述第三表面与所述第一表面相接。
10.一种芯片测试方法,其特征在于,应用于芯片测试系统,所述系统包括:测试终端、信号处理装置以及如权利要求1-9任一项所述的测试机台,所述测试终端分别与所述信号处理装置和所述测试机台连接,所述信号处理装置与所述测试机台连接;
所述测试终端向所述测试机台发送测试指令,以使所述测试机台内的光源装置发出光线;
所述测试机台接收相连的待测芯片返回的数字信号,并将所述数字信号发给所述信号处理装置,所述数字信号是所述待测芯片基于所述光线生成的;
所述信号处理装置对所述数字信号进行参数计算,并将计算结果发给所述测试终端;
所述测试终端根据所述计算结果对所述待测芯片进行测试。
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