[发明专利]一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法在审
申请号: | 202010177216.0 | 申请日: | 2020-03-13 |
公开(公告)号: | CN111370534A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 王军;张超毅;张兴超;苟君;蒋亚东 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/09 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 杜朗宇 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 石墨 表面 吸附 效应 光电 探测器 制备 方法 | ||
1.一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:在衬底基片(1)上制备绝缘层(2);步骤2:在绝缘层上引入单层石墨烯(3);步骤3:石墨烯表面涂覆层(4)的制备;步骤4:涂覆层(4)的表面固化处理与去除;步骤5:通过热蒸发制备金属电极(5)。
2.根据权利要求1所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:所述的涂覆层(4)的制备方法如下:
(a1)衬底加热,将衬底置于工件台上加热,使光刻胶液滴在覆盖衬底表面后加速挥发溶剂,使得光刻胶的流动性降至最低,以覆盖石墨烯表面;(a2)光刻胶喷涂遍历石墨烯,喷嘴对衬底进行光刻胶喷涂,使得整个石墨烯表面均匀覆盖一层光刻胶。
3.根据权利要求2所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:所述(a2)后包括步骤(a3):所述衬底旋转并再次遍历石墨烯:将衬底旋转90°并再次遍历,进行4次,使得各个朝向都能覆盖均匀的光刻胶涂覆层。
4.根据权利要求1所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:所述步骤4中对所述涂覆层(4)进行烘烤固化,增强石墨烯对涂覆层光刻胶的表面吸附效应。
5.根据权利要求4所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:所述光刻胶与单层石墨烯之间形成稳定吸附原子层薄膜,烘烤条件为100~120℃下保温5~20min。
6.根据权利要求2所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:对所述涂覆层(4)的去除包括以下步骤:
(b1)使用丙酮浸泡石墨烯衬底,溶解大部分的涂覆层光刻胶,石墨烯由于表面吸附效应粘附原子层厚度的光刻胶;(b2)依次使用乙醇以及去离子水清洗石墨烯表面,去除残留的丙酮及杂质。
7.根据权利要求6所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:所述(b2)后还包括步骤(b3):将所述衬底置于加热板上烘烤固化涂覆层,进一步蒸发残留溶剂和可挥发有机物。
8.根据权利要求1所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:经过所述步骤3和所述步骤4后,由于石墨烯吸收效应和表面固化处理,整个石墨烯表面均匀吸收原子层厚度的稳定涂覆层材料,该涂覆层结构稳定且为石墨烯提供表面保护。
9.根据权利要求2所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:制备所述涂覆层涂覆层(4)的制备过程中使用的加热板加热温度为70~90℃,喷嘴距石墨烯表面的高度为8~12毫米,光刻胶的流速为0.5~1毫升/秒,喷涂时间为20~60s。
10.根据权利要求1所述的一种基于石墨烯表面吸附效应的光电探测器制备方法,其特征在于:在大面积石墨烯表面形成均匀的原子层厚度涂覆层。
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