[发明专利]一种仪表数据读取方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010175259.5 | 申请日: | 2020-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN111401377A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
| 发明(设计)人: | 何悦;黄厚钧;李诚 | 申请(专利权)人: | 北京市商汤科技开发有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/34 | 分类号: | G06K9/34;G06K9/20;G06K9/40;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人: | 李明;赵吉阳 |
| 地址: | 100142 北京市海淀区北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 仪表 数据 读取 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种仪表数据读取方法,其特征在于,包括:
获取仪表的极坐标图像;
基于极坐标系和直角坐标系之间的坐标值转换关系,将所述极坐标图像转换为直角坐标图像;
对所述直角坐标图像进行二值化处理,生成所述直角坐标图像的二值图像;
基于所述二值图像中像素点的像素值,确定所述仪表的指针在所述二值图像中的指示位置,并基于所述指示位置,确定所述仪表的指针指示的仪表数据。
2.根据权利要求1所述的仪表数据读取方法,其特征在于,对所述直角坐标图像进行二值化处理,生成所述直角坐标图像的二值图像,包括:
从所述仪表的图像中,确定至少一个表征指针的目标像素点,并基于所述目标像素点的像素值,确定基准像素值;所述仪表的图像包括所述极坐标图像或者所述直角坐标图像;
基于所述基准像素值,对所述直角坐标图像进行二值化处理,生成所述直角坐标图像的二值图像。
3.根据权利要求1或2所述的仪表数据读取方法,其特征在于,所述获取仪表的极坐标图像,包括:
获取包括仪表的原始图像;
通过对所述原始图像进行仪表边缘轮廓检测,从所述原始图像中截取仪表图像;
对所述仪表图像进行坐标转换,得到所述仪表的极坐标图像。
4.根据权利要求2或3所述的仪表数据读取方法,其特征在于,所述从所述仪表的图像中,确定至少一个表征指针的目标像素点,包括:
利用预先训练的指针检测模型,对所述仪表的图像进行指针位置检测,获取所述仪表的指针在所述仪表的图像中的位置信息;
基于所述位置信息,从所述仪表的图像中,确定至少一个所述目标像素点。
5.根据权利要求2或3所述的仪表数据读取方法,其特征在于,在所述仪表的图像包括所述极坐标图像的情况下,所述从所述极坐标图像中,确定至少一个表征指针的目标像素点,包括:
基于所述极坐标图像的中心像素点,确定多个与所述中心像素点的距离小于预设距离的多个备选像素点;将所述多个备选像素点中,与所述中心像素点的像素值之间的差值小于或者等于预设的第一差值阈值的备选像素点,确定为所述目标像素点;
或者,
对所述极坐标图像进行霍夫直线变换,得到多组在所述极坐标图像中构成线段的像素点组;基于多组所述像素点组所构成的线段的长度,确定与所述指针对应的目标像素点。
6.根据权利要求2或3所述的仪表数据读取方法,其特征在于,在所述仪表的图像包括所述直角坐标图像的情况下,从所述直角坐标图像中确定至少一个表征指针的目标像素点,包括:
获取位于所述直角坐标图像中的预设位置的多个备选像素点;
统计在多个不同的像素值取值区间下,每个像素值取值区间对应的备选像素点的数量;
基于每个所述像素值取值区间对应的备选像素点的数量,从所述多个备选像素点中确定目标像素点。
7.根据权利要求2-6任一项所述的仪表数据读取方法,其特征在于,所述基于所述目标像素点的像素值,确定基准像素值,包括:
针对所述目标像素点有多个的情况,基于多个所述目标像素点的像素值,确定多个所述目标像素点的像素值均值或像素值众数;将所述像素值均值或所述像素值众数确定为所述基准像素值。
8.根据权利要求2-7任一项所述的仪表数据读取方法,其特征在于,基于所述基准像素值,对所述直角坐标图像进行二值化处理,生成所述直角坐标图像的二值图像,包括:
遍历所述直角坐标图像中的像素点,确定遍历到的像素点的像素值与所述基准像素值之间的差值;
在所述差值小于或者等于预设的第二差值阈值的情况下,将所述遍历到的像素点的像素值重新赋值为第一预设值;
在所述差值大于所述第二差值阈值的情况下,将所述遍历到的像素点的像素值重新赋值为第二预设值;
基于重新赋值后的像素点,生成所述二值图像。
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