[发明专利]过驱动电压测量方法及测量系统、计算机可读存储介质

说明书

本发明提供一种过驱动电压测量方法，其包括如下步骤：提供待测量的液晶显示面板和具光学探头的光学测试仪，所述光学探头设置于所述液晶显示面板表面；提供控制主机产生时序信号控制指令和过驱动测量图像编码指令；提供集成电路总线控制器产生时序控制信号以及接收过驱动测量图像编码指令并解码生成过驱动测量图像信号；提供时序控制器对应产生可变刷新率的时序信号；提供过驱动测量图像发生器对应生成过驱动测量图像；所述光学探头测量过驱动电压；所述过驱动电压传输至所述控制主机。本发明的过驱动电压测试系统和方法效率高，精度高。同时，本发明还提供一种采用所述过驱动电压测量方法的系统及计算机可读存储介质。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种基于可变刷新率的液晶显示面板的过驱动测量系统、测量方法和计算机可读存储介质。

背景技术

在液晶显示领域中，显示设备包括液晶显示面板和时序控制器，液晶显示面板包括液晶分子，液晶分子可以在时序控制器施加的电压的驱动下偏转，其中所述液晶分子的偏转程度不同导致液晶显示面板的透光率不同，从而实现不同灰阶画面的显示。

由于液晶分子具有粘滞特性，因此，液晶分子在电压驱动下偏转至预期姿态需要一段时间，如果这段时间过长就会导致液晶显示面板出现拖影现象，影响液晶显示面板的显示效果。以薄膜晶体管液晶显示模组(TFT-LCD)为例，电容上C＝Q/V，当电量Q保持不变时，受外界环境影响，液晶分子的电容增加，从而导致对应的电压V下降，因此，液晶分子的灰阶响应曲线很难在一帧时间内达到目标值，为了减小液晶分子在预设电压驱动下偏转至预期姿态所需的时长，许多液晶显示面板引入了过驱动(OD：Over Driving)技术。所述过驱动技术通过增加驱动电压，所述电量Q增加，使得液晶分子的响应时间变短。

因此，所述过驱动技术是一种对显示画面任意灰阶之间的跳变，确保在一帧时间内，提升液晶显示器反应时间，液晶的亮度输出达到目标灰度所需的亮度值。在实际应用中，人眼感受到的亮度高低和光通量、显示时间之间存在如下关系：

人眼感受到亮度的高低＝光通量(流明)×显示时间＝Lm×T＝cd/㎡×面积×T。

对于液晶显示模组而言，在光通量和发光面积已经确定的情况下，人眼感受到的光能是由显示时间T决定。

根据动态画面显示的要求，使用过驱动技术时，相邻的两帧画面的显示亮度基本相同，对于每一像素，在显示某一图像时，需要施加一像素电压至该像素，对应显示画面，时序控制器可以根据该图像的前一帧图像的灰阶值和目标灰阶值确定该像素的过驱动补偿灰阶值，然后对应提供灰阶过驱动电压，并将显示该图像时需向该像素施加的像素电压与该过驱动补偿电压进行相加，得到实际需要向该像素施加的像素电压(也可称为过驱动像素电压)，之后为该像素施加该过驱动像素电压，从而使该像素中的液晶分子能够在较短的时间内偏转至预期姿态。

具体而言，根据每一像素当前帧图像的灰阶值和前一帧图像的灰阶值产生一过驱动电压值，再利用所述过驱动电压值驱动对应的液晶分子，以加快液晶分子的转动速度，进而缩短液晶显示器的反应时间。

相关技术中，对于每一像素，所述时序控制器可以根据该像素当前显示的图像的灰阶值和该子像素待显示的图像的灰阶值查表得到上述过驱动补偿电压。

所述过驱动电压值与前一帧图像所呈现的灰阶值以及当前帧图像的灰阶值相关。在过驱动电压驱动过程中，所述时序控制器的过驱动算法只是在特定的刷新频率下通过光学仪器CA310进行量测，然后将量测得到的上一帧图像的灰阶值到当前帧图像的灰阶值填入混光距离表格，进行人工校对。该种模式下，为确认最佳的过驱动电压值，必须进行人工校正，因此，效率低下且误差较大。

另一方面，现有技术的液晶显示模组并本身仅支持固定的像素时钟频率刷新，并不支持可变像素时钟频率刷新的功能，直接升级相应硬件以支持可变像素时钟频率刷新的功能，会导致成本增加。

因此，有必要提供一种高效、精度高且成本低的过驱动电压测量方法及测量系统、计算机可读存储介质。