[发明专利]过驱动电压测量方法及测量系统、计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其包括如下步骤：

步骤S01，提供待测量的液晶显示面板和具有光学探头的光学测试仪，所述光学探头设置于所述液晶显示面板表面，界定混光距离参考点；

步骤S02，提供控制主机，其产生时序信号控制指令和过驱动测量图像编码指令；

步骤S03，提供集成电路总线控制器，其接收来自所述控制主机的时序信号控制指令并产生时序控制信号，以及接收过驱动测量图像编码指令并解码生成过驱动测量图像信号；

步骤S04，提供时序控制器，其接收来自所述集成电路总线控制器的时序控制信号，对应产生可变刷新率的时序信号；

步骤S05，提供过驱动测量图像发生器，其接收来自所述集成电路总线控制器的过驱动测量图像信号对应生成过驱动测量图像；

步骤S06，所述光学探头测量目标帧图像灰阶值和前一帧图像灰阶值，并经所述光学测试仪传输至所述控制主机，所述控制主机根据目标帧图像灰阶值和前一帧图像灰阶值、前一帧图像灰阶亮度保持时长、当前显示时间来确定待处理帧图像的过驱动灰阶值，并根据所述待处理帧图像的过驱动灰阶值确定过驱动电压；

步骤S07，所述过驱动电压传输至所述控制主机，并重复步骤S01至步骤S07。

2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其特征在于，在所述步骤S01与步骤S02之间，还包括对所述液晶显示面板的加热步骤。

3.根据权利要求2所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其特征在于，所述对所述液晶显示面板的加热步骤是通过上电开机加热。

4.根据权利要求3所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其特征在于，在加热时，还包括重载画面的步骤。

5.根据权利要求1所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其特征在于，还包括所述控制主机判断可变刷新率对应的过驱动电压值是否满足过驱动测量图像表的需求的步骤，如果不满足，则继续步骤S01至步骤S07，直至满足停止重复上述步骤。

6.根据权利要求5所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法，其特征在于，重复步骤S01-S07，获得多组过驱动测量电压值，当所述控制主机判断可变刷新率对应的多个过驱动电压值满足过驱动测量图像表的需求时，则所述控制主机通过所述集成电路总线控制器将下一帧图像所述过驱动测量图像表烧录入闪存。

7.一种过驱动电压测量系统，应用于对液晶显示面板的过驱动电压测量，所述系统包括具有光学探头的光学测试仪、控制主机、集成电路总线控制器、时序控制器及过驱动测量图像发生器，所述光学探头设于所述液晶显示面板表面，所述控制主机产生信号控制可变刷新频率的指令，所述集成电路总线控制器接收来自所述控制主机的时序信号控制指令并产生时序控制信号，以及接收过驱动测量图像编码指令并解码生成过驱动测量图像信号，

所述时序控制器接收来自所述集成电路总线控制器的时序控制信号对应产生可变刷新率的时序信号，

所述过驱动测量图像发生器接收来自所述集成电路总线控制器的过驱动测量图像信号对应生成过驱动测量图像，

所述光学探头测量目标帧图像灰阶值和前一帧图像灰阶值，并经所述光学测试仪传输至所述控制主机，所述控制主机根据目标帧图像灰阶值和前一帧图像灰阶值、前一帧图像灰阶亮度保持时长、当前显示时间来确定待处理帧图像的过驱动灰阶值，并根据所述待处理帧图像的过驱动灰阶值确定过驱动电压，所述过驱动电压传输至所述控制主机。

8.根据权利要求7所述的过驱动电压测量系统，其特征在于，所述液晶显示面板叠设的包括薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光片基板，所述光学探头抵接所述薄膜晶体管阵列基板的表面设置。

9.根据权利要求7所述的过驱动电压测量系统，其特征在于，所述光学测试仪多次测量获得多个过驱动电压值，形成过驱动测量图像表，使得所述控制主机接收多个基于可变刷新率的过驱动电压值获得过驱动电压测量表，并经所述集成电路总线烧录入闪存。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储多条指令，所述指令适用于由控制主机加载至集成电路总线控制器以执行权利要求1-6任一项所述的液晶显示面板的过驱动电压测量方法。