[发明专利]电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统有效

专利信息
申请号: 202010131955.6 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN111337173B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 赵亮;李俞先;胡家渝;翁夏;何智航 申请(专利权)人: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 电子 模块 楔形 封装 插槽 锁紧力 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,包括:测试模块安装在振动台、冲击台上,通过数据连接线(6)顺次串联数据采集仪(7)、上位机(5)),其特征在于:测试模块具有一个互为垂直搭接而成的矩形体短基座(10)和长基座(11),所形成的L形根部制有互为垂直安放低导热锁紧条(2)和高导热锁紧条(4)的纵向槽,L形垂直体的端面上还设有线阵排列的定位螺栓(12)和互为垂直面内侧装配压力传感器(8)的线阵凹槽,每个压力传感器(8)的数据连接线(6)通过线阵凹槽背端的导线孔连接数据采集仪(7),定位螺栓(12)结合压力传感器(8)通过插入互为垂直的T形挡块(9)调节高导热锁紧条(4)和低导热锁紧条(2)的测试间距;测试模块通过压力传感器(8)将测量结果实时上传至上位机(5),上位机(5)采用具有力学仿真模块,而且拥有实时传输数据与仿真模型交互功能的Ansys仿真软件,建立仿真模型,设定锁紧条连接部分各主要接触面面积,模拟电子模块在锁紧条工作状况下的稳态力场,对楔形锁紧条锁紧力形成的测试等效力场进行动态测试,实时传输、实时显示测量结果。

2.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:根据标准要求,通过螺杆(3)向低导热锁紧条(2)和高导热锁紧条(4)的加载载荷,获得不同行程的锁紧力,数据采集仪(7)采集定位螺栓(12)接触压力的测试结果,通过数据连接线(6)实时上传至上位机(5),实现楔形锁紧条锁紧力的动态测试。

3.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:在测试过程中,压力传感器(8)通过数据连接线(6)连接数据采集仪(7),数据采集仪(7)采集的测试结果能够通过数据连接线(6)实时上传至上位机(5),对锁紧条的锁紧力测量之前,先确定低导热锁紧条(2)或者高导热锁紧条(4)应用过程中的行程。

4.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:根据标准要求,通过螺杆(3)向低导热锁紧条(2)和高导热锁紧条(4)的加载载荷,获得不同螺杆(3)预紧力下的锁紧条锁紧力。

5.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:压力传感器(8)顶部与短基座(10)、长基座(11)的纵向槽顶部之间,根据需求安装不同厚度的垫片(13)实现挡块(9)与短基座(10)、长基座(11)之间测试间距的调节。

6.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:在压力传感器(8)顶部与短基座(10)、长基座(11)的纵向槽顶部之间插入不同厚度的垫片(13),插入低导热锁紧条(2)或高导热锁紧条(4),实现挡块(9)与短基座(10),长基座(11)之间测试间距的调节。

7.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:在测试前根据所测试低导热锁紧条(2)或者高导热锁紧条(4)的测试需求,在短基座(10)、长基座(11)的纵向槽顶部与压力传感器(8)顶部之间插入不同厚度的垫片(13)固定测试间距,通过调节定位螺栓(12)固定测试间距,插入低导热锁紧条(2)或高导热锁紧条(4),再用力矩螺丝刀向低导热锁紧条(2)或者高导热锁紧条(4)的螺杆(3)加载载荷,通过力矩螺丝刀给螺杆(3)加载载荷,结合标准规定确定力矩螺丝刀的载荷加载范围,实时测量低导热锁紧条(2)或高导热锁紧条(4)的锁紧力,获得不同行程时的低导热锁紧条(2)或者高导热锁紧条(4)的锁紧力。

8.如权利要求1所述的电子模块楔形封装插槽锁紧力测量系统,其特征在于:根据低导热锁紧条(2)或高导热锁紧条(4)应用过程中的行程,将低导热锁紧条(2)或高导热锁紧条(4)插入挡块(9)与短基座(10)、长基座(11)之间的测量位置,通过插入螺杆(3)螺头下方的垫片(13)调节挡块(9)与短基座(10),挡块(9)与长基座(11)之间测量位置的距离。

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