[发明专利]检测结构、显示面板、检测装置及检测系统

说明书

本发明提供了一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，涉及显示技术领域，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、导致无法实现点灯的问题。检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个测试单元包括：芯片绑定部、位于芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组第二连接线的第一端连接测试引脚部、第二端连接芯片绑定部；任意相邻两个测试单元中，相邻两个测试引脚部分别连接一组第一连接线的第一端和第二端；检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。本发明适用于显示面板和检测装置的制作。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统。

背景技术

液晶显示面板在显示技术领域中具有举足轻重的作用。液晶显示面板一般包括对盒的彩膜基板和阵列基板、以及位于彩膜基板和阵列基板之间的液晶。为了保证产品质量，在液晶显示面板出厂前，会对切割完成的液晶盒进行点灯测试(Cell Test，CT)，以确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷观察装置对点灯画面进行检测，确认各个像素是否良好。

为了降低成本，多采用2D点灯方案。现有的2D CT点灯设计中，在显示面板的非显示区，设置多个COF Bonding区，每个COF Bonding区的左右两侧各设置一组CT Pad。CT点灯时，PU(Probe Unit，探针装置)上的多个Block(探针块)的位置与多个COF Bonding区的位置一一对应，每个Block中靠近显示面板的一侧各有两组针(Blade)，且分别与对应的COFBonding区两侧的CT Pad接触；这样可以通过Block的Blade向CT Pad输入不同信号，从而实现CT点灯。

然而，这种CT点灯方式，对COF Bonding区的间距有一定的要求。对于小尺寸、高分辨率的液晶显示产品来说，COF Bonding区的数量多，但是面板尺寸小，这必然会导致COFBonding区的间距过小。而若相邻COF Bonding区之间的两组CT Pad距离过小，会导致PU上与之对应的相邻两个Block发生干涉，严重影响信号传输，从而导致无法实现点灯。

发明内容

本发明的实施例提供一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：

多个测试单元和多组第一连接线；

每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；

每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；

任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；

所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。

可选的，每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。

可选的，每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；