[发明专利]检测结构、显示面板、检测装置及检测系统

权利要求书

1.一种检测结构，位于显示面板的非显示区，其特征在于，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；

每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；

每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；

任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；

所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接；其中，所述间隔设置的间距为两个及以上的测试单元所组成的间距。

2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，

每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。

3.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，

每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；

每组所述第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述红色子像素数据线引脚、所述绿色子像素数据线引脚、所述蓝色子像素数据线引脚和所述公共信号线引脚。

4.根据权利要求1-3任一项所述的检测结构，其特征在于，所述检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的所述测试单元分别与检测装置电连接，且两个间隔设置的所述测试单元分别位于所述检测结构的两端。

5.一种显示面板，其特征在于，包括检测结构、以及位于显示区的多个阵列排布的子像素；

所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；

每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；

每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；

任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；

其中，所述检测结构中多组第二连接线断开。

6.一种检测装置，其特征在于，用于检测显示面板，所述显示面板包括权利要求1-4任一项所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；

所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括两个间隔设置的所述探针块，且两个间隔设置的所述探针块分别位于所述检测装置的两端。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括多个间隔设置的探针块卡槽。

9.一种检测系统，其特征在于，包括：控制器、显示面板和权利要求6-8任一项所述的检测装置；

所述显示面板包括权利要求1-4任一项所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；

所述检测装置被配置为：检测所述显示面板；

所述控制器被配置为：向所述检测装置的探针块输入数据信号；检测所述显示面板的显示画面是否良好；若是，则判定所述显示面板正常；若否，则判定所述显示面板异常。