[发明专利]自动检查走线的处理方法、装置、电子设备与存储介质有效
申请号: | 202010121377.8 | 申请日: | 2020-02-26 |
公开(公告)号: | CN111353270B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 卢琳;徐沙沙;孟丽芳;陈耀华;简桢强;王树涛 | 申请(专利权)人: | 上海柏楚数控科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392 |
代理公司: | 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343 | 代理人: | 苏蕾;徐桂凤 |
地址: | 200241 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 检查 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本发明提供了一种自动检查走线的处理方法、装置、电子设备与存储介质,所述的处理方法,包括:确定PCB板设计文件中层叠的多个图层中的平面层与走线层;每个平面层对应具有一个或多个平面;每个走线层对应具有一条或多条总线;针对于每根走线,将所述走线分为若干走线段,并确定每根走线段的起点与终点的位置信息;所述位置信息表征的是PCB板二维平面中的位置;针对于每根走线,根据各起点和终点的位置信息,将其中的第一走线段与第二走线段显示为不同的显示状态,所述第一走线段指跨不同平面的走线段,所述第二走线段指未跨不同平面的走线段。
技术领域
本发明涉及电路板设计领域,尤其涉及一种自动检查走线的处理方法、装置、电子设备与存储介质。
背景技术
良好的PCB设计,信号线均应具有完整的参考平面作为回流路径。当走线跨平面时,其参考平面不连续不完整就会带来诸多问题,如EMI、串扰问题。故而,需对走线进行检查。
现有的相关技术中,通常是人工肉眼寻找,效率低下,且容易出现遗漏,影响PCB设计周期及设计质量。
发明内容
本发明提供一种自动检查走线的处理方法、装置、电子设备与存储介质,以解决人工方式效率低下且容易出现遗漏的问题。
根据本发明的第一方面,提供了一种自动检查走线的处理方法,包括:
确定PCB板设计文件中层叠的多个图层中的平面层与走线层;每个平面层对应具有一个或多个平面;每个走线层对应具有一条或多条总线;
针对于每根走线,将所述走线分为若干走线段,并确定每根走线段的起点与终点的位置信息;所述位置信息表征的是PCB板二维平面中的位置;
针对于每根走线,根据各起点和终点的位置信息,将其中的第一走线段与第二走线段显示为不同的显示状态,所述第一走线段指跨不同平面的走线段,所述第二走线段指未跨不同平面的走线段。
可选的,根据各起点与终点的位置信息,将第一走线段与第二走线段显示为不同的显示状态,包括:
针对于每根走线,根据各起点与终点的位置信息,遍历每个平面上的每个起点与终点;
若同一平面上相邻的起点与终点之间有走线部分,则确定该相邻的起点与终点之间的走线段为第二走线段,并确定所述第二走线段显示为与所述第二走线段对应的第二显示状态;
确定所述走线中未被确定为所述第二走线段的走线段为所述第一走线段,并确定所述第一走线段显示为与所述第一走线段对应的第一显示状态。
可选的,根据各端点的位置信息,将第一走线段与第二走线段显示为不同的显示状态之前,还包括:将所有走线均显示为目标显示状态;
所述第一显示状态为所述目标显示状态,所述第二显示状态为与所述目标显示状态不同的其他显示状态,或者:
所述第二显示状态为所述目标显示状态,所述第一显示状态为与所述目标显示状态不同的其他显示状态。
可选的,所述目标显示状态与所述第一显示状态为高亮显示状态,所述第二显示状态为未高亮的显示状态。
可选的,各走线段的长度相同,且小于或等于各平面间的最小间距的两倍。
可选的,不同的平面具体指不同的铜皮。
可选的,所述平面层为负片层;
确定PCB板设计文件中层叠的多个图层中的平面层与走线层,包括:
根据不同图层的层叠属性,确定其中的走线层与平面层。
根据本发明的第二方面,提供了一种的自动检查走线的处理装置,包括:
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