[发明专利]用于校准齿轮切割机中的测量探针的方法有效
申请号: | 202010118793.2 | 申请日: | 2020-02-25 |
公开(公告)号: | CN111609777B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | J·V·豪斯 | 申请(专利权)人: | 利勃海尔齿轮技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人: | 杨黎峰;张玫 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校准 齿轮 切割机 中的 测量 探针 方法 | ||
1.一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法,其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端,其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转,并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿,
所述方法包括以下步骤:
-使测量探针和/或工件横穿到相对位置中,在所述相对位置中,所述测量探针尖端接触所述工件的齿面;
-经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转,并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿,以使得:
-在完美校准的情况下,所述测量探针尖端在所述齿面上的接触点将保持不变,并且
-在完美校准的情况下,所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量将采用和/或维持至少一个指定值;
-确定在至少一个测量点处所述测量探针尖端的所述偏转与所述至少一个指定值的偏差;
-基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。
2.一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法,其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端,其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转和/或所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转的实现,并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿,
所述方法包括以下步骤:
-使测量探针和/或工件横穿到相对位置中,在所述相对位置中,所述测量探针尖端接触所述工件的齿面;
-经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转,并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿,以使得:
-在完美校准的情况下,所述测量探针尖端在所述齿面上的接触点将保持不变,并且
-所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量采用和/或维持至少一个指定值;
-确定在至少一个测量点处所述工件保持器的所述旋转轴线和/或所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线的实际位置与其在完美校准的情况下具有的位置之间的偏差;以及
-基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中针对多个测量点确定所述偏差,并且基于多个所述偏差确定所述至少一个校正值。
4.根据权利要求3所述的方法,其中在多个测量点上确定所述偏差的曲线。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其中将所述偏差与针对不同的校准误差确定的多个理论偏差进行比较,以确定所述校准的至少一个校正值。
6.根据权利要求4所述的方法,其中将所述偏差的所述曲线与针对不同的校准误差和/或所述偏差的理论曲线确定的多个理论偏差进行比较,以确定所述校准的至少一个校正值。
7.根据权利要求1或2所述的方法,其中在至少一个第一测量行程中,确定与所述工件的第一侧面接触的偏差,并且在至少一个第二测量行程中,确定与所述工件的第二侧面接触的偏差。
8.根据权利要求7所述的方法,其中所述第二侧面是所述第一侧面的相对的侧面。
9.根据权利要求1或2所述的方法,其中针对至少两个运动方向和/或运动轴线确定校正值。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述运动方向和/或运动轴线允许在垂直于所述工件保持器的所述旋转轴线的平面中运动。
11.根据权利要求1或2所述的方法,其中同时和/或连续地经由所述工件保持器的所述旋转轴线实现使所述工件旋转,并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线实现使所述测量探针横穿。
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