[发明专利]具有变化采样频率的自适应功率测量结果累加器在审

专利信息
申请号: 201980095576.1 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN113711060A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: R·I·厄格拉纽;T·安德森 申请(专利权)人: 微芯片技术股份有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25;G01R31/382;G01R21/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 蔡悦
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 变化 采样 频率 自适应 功率 测量 结果 累加器
【权利要求书】:

1.一种装置,包括:

采样电路,所述采样电路被配置为初始地在第一采样频率下获得待测单元的电测量结果;

自适应电路;和

累加器,所述累加器被配置为累加来自所述采样电路的所述待测单元的电测量结果;

其中,在从所述第一采样频率到第二采样频率的采样频率变化之后:

所述采样电路被进一步配置为在所述第二采样频率下获得第二电测量结果;

所述自适应电路被配置为根据因子调节来自所述采样电路的所述第二电测量结果以产生经调节的第二电测量结果,所述因子基于所述第一采样频率和所述第二采样频率之间的关系;并且

所述累加器被进一步配置为累加所述经调节的第二电测量结果。

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述累加器被进一步配置为累加在所述第二采样频率下获得的所述经调节的第二电测量结果与在所述第一采样频率下获得的所述第一电测量结果,而不重置所述累加器的值。

3.根据权利要求1-2中任一项所述的装置,还包括:样本计数器,所述样本计数器被配置为:

初始地累加由所述采样电路在所述第一采样频率下获得的电测量结果的计数;以及

在从所述第一采样频率到所述第二采样频率的变化之后,进一步累加由所述采样电路在所述第二采样频率下获得的电测量结果的计数,由所述采样电路在所述第二采样频率下获得的功率测量结果的计数按所述因子被调节。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置,其中所述自适应电路被进一步配置为接收将在所述第二采样频率而不是所述第一采样频率下获得电测量结果的指示。

5.根据权利要求4所述的装置,其中所述自适应电路被进一步配置为接收将在所述第二采样频率而不是所述第一采样频率下获得电测量结果的所述指示,而不通知被配置为使用所述累加器的值的软件。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的装置,其中所述累加器被进一步配置为提供累加的电测量结果的单个值,所述累加的电测量结果包括用所述第一采样频率和所述第二采样频率两者获得的电测量结果。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的装置,其中:

所述自适应电路包括移位电路;

所述因子(“S”)是以2为底的指数,其中2S等于所述第一采样频率与所述第二采样频率的比率;并且

所述移位电路被配置为将电测量结果的累加值移位S位。

8.一种方法,包括:

初始地在第一采样频率下获得待测单元的电测量结果;

累加所述待测单元的电测量结果;

确定从所述第一采样频率到第二采样频率的采样频率变化;

在确定所述采样频率变化之后,在所述第二采样频率下获得第二电测量结果;

根据因子调节所述第二电测量结果以产生经调节的第二电测量结果,所述因子基于所述第一采样频率和所述第二采样频率之间的关系;以及

累加所述经调节的第二电测量结果。

9.根据权利要求8所述的方法,还包括:累加在所述第二采样频率下获得的所述经调节的第二电测量结果与在所述第一采样频率下获得的所述第一电测量结果,而不重置累加值。

10.根据权利要求8-9中任一项所述的方法,还包括:

保持样本计数;

初始地将在所述第一采样频率下获得的电测量结果的计数累加在所述样本计数中;以及

在从所述第一采样频率到所述第二采样频率的变化之后,将在所述第二采样频率下获得的电测量结果的计数累加在所述样本计数中,在所述第二采样频率下获得的功率测量结果的计数按所述因子被调节。

11.根据权利要求8-11中任一项所述的方法,还包括:接收将在所述第二采样频率而不是所述第一采样频率下获得电测量结果的指示。

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