[发明专利]用于控制器结构测试的系统、装置和方法

说明书

一种系统包括安装到印刷电路板PCB的存储器子系统控制器和电路内测试ICT装置。所述存储器子系统控制器在所述PCB上具有包括刺激点和观察点的测试点。所述ICT装置连接到所述控制器的所述测试点。所述ICT装置将自动测试模式生成ATPG输入测试向量转换为测试信号。所述ICT装置的第一引脚驱动器组将所述测试信号施加到所述控制器的所述刺激点，并且所述ICT装置的第二引脚驱动器组读取在所述控制器的所述观察点处输出的输出信号。所述ICT装置的比较器将所述输出信号与输出测试向量进行比较。所述比较器提供包括所述比较的结果的测试结果数据。

优先权申请

本申请要求2018年12月13日提交的第16/219,368号美国申请的优先权权益，所述美国申请以全文引用的方式并入本文中。

技术领域

本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，并且更具体地涉及使用自动测试向量对存储器子系统控制器进行结构测试。

背景技术

存储器子系统可以是存储系统，例如固态驱动器(SSD)，并且可以包含存储数据的一个或多个存储器部件。存储器部件可以例如是非易失性存储器部件和易失性存储器部件。一般来说，主机系统可以利用存储器子系统以在存储器部件处存储数据并且从存储器部件检索数据。

附图说明

根据下文给出的具体实施方式且根据本公开的各种实施例的附图将更加充分地理解本公开。

图1示出了根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统的示例计算环境。

图2是示出根据本公开的一些实施例的用于存储器子系统控制器的双重用途引脚配置的框图。

图3是示出根据本公开的一些实施例的电路内测试(ICT)装置的部件的框图。

图4是根据本公开的一些实施例的用以执行安装在印刷电路板(PCB)上的存储器子系统控制器的测试的示例方法的流程图。

图5是本公开的实施例可以在其中操作的示例计算机系统的框图。

具体实施方式

本公开的方面涉及使用自动测试向量对存储器子系统中的控制器进行结构测试。存储器子系统在下文也称为“存储器装置”。存储器子系统的实例是存储系统，例如SSD。在一些实施例中，存储器子系统是混合式存储器/存储子系统。通常，主机系统可以利用包含一个或多个存储器部件的存储器子系统。主机系统可以提供将要存储在存储器子系统处的数据并且可以请求将要从存储器子系统检索的数据。存储器子系统控制器(在下文简称为“控制器”)可以从主机系统接收命令或操作，并且可以将所述命令或操作转换为指令或恰当的命令，以实现对存储器部件的所需访问。

在存储器子系统上执行制造测试，以确保所有部件都正确地组装且按预期起作用。硅层级处的控制器测试利用依赖于自动测试模式生成(ATPG)(也称为“基于扫描的测试”)的方法。ATPG涉及开发用以测试控制器的结构的唯一输入集，被称为“测试向量”。通常由控制器制造商创建并提供ATPG向量。

在印刷电路板组件(PCBA)层级处，使用在控制器上执行的固件测试控制器功能性。此固件通常是独立于ATPG测试向量开发的，且因此需要可能多余的手动开发来测试控制器的恰当功能，所述手动开发需要对控制器的内部架构和寄存器执行情况的详细了解，以提供足够的测试覆盖范围。另外，由于控制器执行用于测试控制器的固件，因此在此过程中测试覆盖范围存在固有损失。此外，基于固件的操作的执行时间通常比纯硬件操作的执行时间长1-2个数量级，这增加了制造成本。另外，开发固件的一次性工程费用(NRE)是增加制造成本的额外费用。