[发明专利]用于控制器结构测试的系统、装置和方法

权利要求书

1.一种用于控制器结构测试的系统，其包括：

存储器子系统控制器，其安装到印刷电路板，所述存储器子系统控制器在所述印刷电路板上具有多个测试点，所述多个测试点包括刺激点组和观察点组，所述刺激点组中的刺激点对应于所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚，所述观察点组中的观察点对应于所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的扫描输出引脚，其中所述扫描输入引脚和扫描输出引脚促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试；以及

电路内测试装置，其连接到所述印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的所述多个测试点，所述电路内测试装置包括：

存储器，其存储包括标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成测试向量数据，所述STIL文件包括自动测试模式生成输入测试向量；

处理装置，其执行使得所述处理装置将来自所述STIL文件的所述自动测试模式生成输入测试向量转换为能驱动所述存储器子系统控制器的所述刺激点组的测试信号的指令；

第一引脚驱动器组，其将所述测试信号施加到所述存储器子系统控制器的所述刺激点组，所述第一引脚驱动器组中的第一引脚驱动器将基于所述STIL文件产生的测试信号施加到所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的所述扫描输入引脚；

第二引脚驱动器组，其读取在所述存储器子系统控制器的所述观察点组处输出的输出信号；以及

比较器，其将所述输出信号与输出测试向量进行比较，所述输出测试向量包括将所述测试信号施加到所述存储器子系统控制器的预期结果，所述比较器进一步用以提供测试结果数据，所述测试结果数据包括将所述输出信号与所述输出测试向量进行比较的结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述自动测试模式生成向量数据进一步包括所述自动测试模式生成输出测试向量。

3.根据权利要求1所述的系统，其中将来自所述STIL文件的所述自动测试模式生成输入测试向量转换为测试信号包括产生代表所述自动测试模式生成输入向量的电信号。

4.根据权利要求1所述的系统，其中至少一个测试点对应于所述印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的测试引脚，所述测试引脚包括在驱动器与缓冲器之间串联连接的电阻器。

5.根据权利要求4所述的系统，其中第一测试点设置在所述驱动器与所述电阻器之间。

6.根据权利要求5所述的系统，其中第二测试点设置在所述电阻器与所述缓冲器之间。

7.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述多个测试点中的测试点对应于指定为无连接引脚的测试引脚，

所述测试引脚包括与缓冲器串联连接的驱动器，并且

测试点设置在所述驱动器与所述缓冲器之间。

8.一种电路内测试装置，其包括：

存储器，其用以存储包括标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成测试向量数据，所述STIL文件包括自动测试模式生成输入测试向量；

处理装置，其执行使得所述处理装置将来自所述STIL文件的所述自动测试模式生成输入测试向量转换为能驱动存储器子系统控制器的测试点组的测试信号的指令；

多个引脚驱动器，其用以连接到印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的多个测试点，所述多个引脚驱动器中的第一引脚驱动器用以将基于所述STIL文件产生的所述测试信号中的一个施加到对应于所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的刺激点，所述多个引脚驱动器中的第二引脚驱动器用以响应于所述测试信号而读取在对应于所述存储器子系统控制器的扫描输出引脚的观察点处输出的输出数据，其中所述扫描输入引脚和扫描输出引脚促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试；以及

比较器，其用以将所述输出数据与输出测试向量进行比较，所述输出测试向量包括将所述测试信号施加到所述存储器子系统控制器的预期结果，所述比较器进一步用以提供测试结果数据，所述测试结果数据包括将所述输出数据与所述输出测试向量进行比较的结果。