[发明专利]用于反射VUV辐射的光学元件和光学布置在审
| 申请号: | 201980081093.6 | 申请日: | 2019-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN113167942A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | A.帕齐迪斯;M.克伦兹;H.特劳布;M.哈特林 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 |
| 主分类号: | G02B5/08 | 分类号: | G02B5/08;G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 反射 vuv 辐射 光学 元件 布置 | ||
1.一种用于反射VUV波长范围内的辐射(11、21)的光学元件(4),包括:
基板(41)和施加到所述基板(41)并具有至少一个铝层(43)的反射涂层(42),
其特征在于,
将用于分解分子氢(H2)的至少一个氢催化层(45)施加到所述铝层(43)上。
2.根据权利要求1所述的光学元件,其中,所述氢催化层(45)的材料选自包括Ru、Pt、Pd、Ni、Rh的组。
3.根据权利要求1或2所述的光学元件,其中,所述氢催化层(45)的层厚度(D)在0.1nm和3.0nm之间,优选在0.1nm和1.0nm之间。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学元件,其中,所述氢催化层(45)不完全覆盖所述铝层(43)。
5.根据权利要求4所述的光学元件,其中,所述氢催化层(45)以在10%至90%之间的覆盖度覆盖所述铝层(43)。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学元件,还包括:至少一个保护层(46),所述至少一个保护层(46)被施加到所述铝层(43)和所述氢催化层(45)。
7.根据权利要求6所述的光学元件,其中,所述保护层(46)形成封闭层。
8.根据权利要求6或7所述的光学元件,其中,所述保护层(46)由透明的、特别是氟化物的材料形成。
9.根据权利要求6至8中任一项所述的光学元件,其中,所述保护层(46)由能够通过用所述VUV波长范围内的辐射(11、21)辐照和/或通过与氢气(H2)接触而剥离的材料形成。
10.根据权利要求9所述的光学元件,其中,所述保护层(46)由碳或至少一种碳氢化合物形成。
11.一种用于VUV波长范围的光学布置,特别是晶片检查系统(2)或VUV光刻设备(1),包括:
内部(122a、24a),其中布置至少一个光学元件(121、220、221;140、141;4、5、6),以及
至少一个进气口(123、26、52a-f),用于供应气体(H2)到所述内部(122a,24a),
其特征在于,
所述光学元件(121、220、221、4)如权利要求1至10中的任一项所述地设计,以及所述进气口(123、26)被设计用于供应氢气(H2)到所述内部(122a,24a)。
12.根据权利要求11的前序所述的光学布置,特别是如权利要求11所述的光学布置,
其特征在于,
等离子体产生装置(50、60),用于经由所述进气口(123、26、52a-f)向所述内部(122a,24a)供应等离子体气体(54a-f),以至少在所述光学元件(5、6)的光学表面(5a,6a)的一个部分区域(55a-f)中产生大气压等离子体(51、61)。
13.根据权利要求12所述的光学布置,其中,所述等离子体产生装置(50、60)被设计用于在所述光学元件(5、6)的光学表面(5a,6a)上产生氢等离子体(51、61)。
14.根据权利要求12和13中任一项所述的光学布置,其中,所述进气口被设计为等离子体喷嘴(52a-f),用于将所述等离子体气体(54a-f)供应到所述光学表面(5a)的至少一个部分区域(55a-f)。
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