[发明专利]用于确定测量面的相对反射率的方法在审

专利信息
申请号: 201980065459.0 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN112930475A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: G·伯尔尼;P·肖特尔;A·海姆斯特;P·尼茨 申请(专利权)人: 弗劳恩霍夫应用研究促进协会
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 南毅宁
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 测量 相对 反射率 方法
【说明书】:

发明涉及一种用于确定测量面的相对反射率的方法,包括以下方法步骤:A.向测量面施加测量辐射,使得在测量面上产生测量斑,B.根据第一轨迹运动,使测量斑在测量面上至少沿着为直线的第一测量斑轨迹运动,C.在根据步骤B的第一轨迹运动期间,拍摄测量面的多个位置分辨图像的第一图像集,以及D.确定测量面的多个位置点的相对反射率。本发明的特征在于,在方法步骤B中,在第二轨迹运动中,测量斑在测量面上还至少沿着不平行于第一测量设置轨迹的为直线的第二测量轨迹运动,使得在第一轨迹运动期间测量扫过的测量面的第一测量轨迹区域至少与在第二轨迹运动期间被测量斑扫过的测量面的第二测量轨迹区域重叠,在方法步骤C中,在根据步骤B的第二轨迹运动期间拍摄测量面的多个位置分辨图像的第二图像集,并且在方法步骤D中,在交点上进行评估,交点在测量面上的位置点由评估线限定,其中预先给定和/或确定在第一测量轨迹区域内的第一组直线评估线和在第二测量轨迹区域内的至少第二组直线评估线,其中这些组具有至少两条彼此间隔的评估线,第一组中的评估线平行于第一测量斑轨迹,并且第二组中的评估线平行于第二测量斑轨迹,并且第一组中的每条评估线与第二组中的每条评估线相交,其中对于每个图像集,在每种情况下分别至少针对每个交点确定最大灰度值,并且在方法步骤D中,根据这些灰度值至少在交点的子集上确定测量面的相对反射率。

技术领域

本发明涉及一种根据方案1的用于确定测量面的相对反射率的方法。

背景技术

对于许多应用来说,期望以空间分辨的方式确定测量面的反射率。可以在建筑中找到用于测量外立面的反射的应用示例,尤其是太阳辐射的反射。同样,期望测量内部空间中的反射率,尤其是墙壁和内部区域中的其它大面积建筑结构对象的反射率。此外,在科学领域中存在用于测量平面样品的反射率的应用。这包括针对例如植物或其它生物对象的静态样品和动态样品。

此外,确定太阳能热塔发电站中的辐射接收器的反射率也是必要的:为了利用太阳能,已知借助多个反射器将太阳辐射聚集到一个辐射接收器上。在太阳能热塔发电站中,入射的太阳辐射借助构造为定日镜的反射器被集中到辐射接收器上。为了确定辐射接收器的质量、为了检测辐射接收器在运行期间的缺陷以及为了优化对阳光的使用,对辐射接收器的吸收面的反射率进行空间分辨测量是期望的:由DE 10 2016 119 000 A1公知了一种太阳能热塔发电站和一种用于对塔发电站的定日镜进行定向的校准方法。由DE 10 2016226 033 A1公知了一种用于确定太阳能热塔发电站的辐射接收器的吸收面的相对反射率的方法。在此,借助定日镜使光斑在辐射接收器上运动。在该运动期间,借助摄像头拍摄多个空间分辨图像。辐射接收器的吸收面被划分为多个截面,并且对于每个截面,基于来自摄像头的图像确定最大灰度值。根据最大灰度值,每个节段被分配相对反射率。

发明内容

本发明的目标在于,能够实现相比于现有技术更快的相对反射率的确定或具有更高的空间分辨率的确定。

该目标通过根据方案1的用于确定测量面的相对反射率的方法来实现。有利的实施方式可以在从属方案中得到。

根据本发明的用于确定测量面的相对反射率的方法包括以下方法步骤:

在方法步骤A中,向测量面施加测量辐射,使得在测量面上产生测量斑。在方法步骤B中,根据第一轨迹运动,使测量斑沿至少一个为直线的第一测量斑轨迹运动。在方法步骤C中,在根据步骤B的第一轨迹运动期间拍摄测量面的多个空间分辨图像的第一图像集,并且在方法步骤D中,确定测量面的多个位置点的相对反射率。

如在上述由现有技术已知的方法中那样,由此,测量斑在测量面上运动,并且在该轨迹运动期间拍摄测量面的多个空间分辨图像。

重要的是,在根据本发明的方法中,在方法步骤B中,在第二轨迹运动中,测量斑还至少沿着不平行于第一测量斑轨迹的为直线的第二测量斑轨迹运动,使得在第一轨迹运动期间被测量斑扫过的测量面的第一测量轨迹区域至少与在第二轨迹运动期间被测量斑扫过的测量面的第二测量轨迹区域重叠。

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