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[发明专利]强度分布的光学测定方法-CN202110308584.9在审
发明人： P·尼茨;A·海姆萨特;P·肖特尔;G·伯恩;M·比特林;T·施密特 -专利权人：弗劳恩霍夫应用研究促进协会
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本公开涉及一种强度分布光学测定方法，包括：通过有源或无源辐射源产生空间不均匀的辐射场；图像传感器和辐射源之间产生第一相对运动，使辐射场沿着第一测量轨迹在图像传感器的传感器场上运动，使图像传感器被辐射场的第一测量轨迹区域扫过，记录辐射场的包括多个位置分辨图像的第一图像集；图像传感器和辐射源之间产生第二相对运动，使辐射场沿第二测量轨迹在所述传感器场上运动，使图像传感器被辐射场的第二测量轨迹区域扫过，记录辐射场的包括多个位置分辨图像的第二图像集；至少在第一测量轨迹区域和第二测量轨迹区域的评估线的交点处评估位置分辨图像；为每个图像集，至少对每个交点确定特征灰度值；至少在交点的子集处确定相对强度分布。
强度分布光学测定方法

[发明专利]用于确定测量面的相对反射率的方法-CN201980065459.0在审
发明人： G·伯尔尼;P·肖特尔;A·海姆斯特;P·尼茨 -专利权人：弗劳恩霍夫应用研究促进协会
申请日： 2019-09-30 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定测量面的相对反射率的方法，包括以下方法步骤：A.向测量面施加测量辐射，使得在测量面上产生测量斑，B.根据第一轨迹运动，使测量斑在测量面上至少沿着为直线的第一测量斑轨迹运动，C.在根据步骤B的第一轨迹运动期间，拍摄测量面的多个位置分辨图像的第一图像集，以及D.确定测量面的多个位置点的相对反射率。本发明的特征在于，在方法步骤B中，在第二轨迹运动中，测量斑在测量面上还至少沿着不平行于第一测量设置轨迹的为直线的第二测量轨迹运动，使得在第一轨迹运动期间测量扫过的测量面的第一测量轨迹区域至少与在第二轨迹运动期间被测量斑扫过的测量面的第二测量轨迹区域重叠，在方法步骤C中，在根据步骤B的第二轨迹运动期间拍摄测量面的多个位置分辨图像的第二图像集，并且在方法步骤D中，在交点上进行评估，交点在测量面上的位置点由评估线限定，其中预先给定和/或确定在第一测量轨迹区域内的第一组直线评估线和在第二测量轨迹区域内的至少第二组直线评估线，其中这些组具有至少两条彼此间隔的评估线，第一组中的评估线平行于第一测量斑轨迹，并且第二组中的评估线平行于第二测量斑轨迹，并且第一组中的每条评估线与第二组中的每条评估线相交，其中对于每个图像集，在每种情况下分别至少针对每个交点确定最大灰度值，并且在方法步骤D中，根据这些灰度值至少在交点的子集上确定测量面的相对反射率。
用于确定测量相对反射率方法

[发明专利]用于将太阳辐射汇聚到辐射接收器上的一组反射器的校准方法和校准装置-CN201780067917.5有效
发明人： G·伯尔尼;P·施欧特;D·W·范罗延;P·尼茨;A·海姆斯特 -专利权人：弗劳恩霍夫应用研究促进协会
申请日： 2017-09-26 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： F24S50/20 文献下载
摘要：本发明涉及用于一组反射器的校准方法，包括：A)对准反射器，使由反射器反射的太阳辐射照射到校准区域；B)通过由组中的每个反射器执行运动模式使入射到校准区域上的辐射的强度分布产生变化，其中每个反射器的至少一个预定运动模式参数与其他反射器的参数不同；C)借助于至少一个摄像机记录校准区域的多个位置不同的局部点的像素行，其中每个像素行具有至少五个时间偏移的像素记录；D)将像素行变换到频域来确定每个像素行的光谱；E)根据反射器的运动模式参数将光谱子集分配给反射器；F)根据至少分配给反射器的光谱子集确定每个反射器的至少一个反射目标位置。本发明还涉及用于将太阳辐射汇聚到辐射接收器上的一组反射器的校准装置。
用于太阳辐射汇聚辐射接收器一组反射校准方法装置

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