[发明专利]光检测模块以及光检测装置有效

专利信息
申请号: 201980055666.8 申请日: 2019-08-15
公开(公告)号: CN112639447B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 川田高弘;北田菜津子;武石贵明;野崎孝明 申请(专利权)人: 西铁城时计株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;A61B1/00;A61B1/24
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 刘煜
地址: 日本东京都西东*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 模块 以及 装置
【说明书】:

本发明提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本发明的光检测模块具有:光源,其出射去往试样的照射光;分束器,其朝输入输出口反射照射光,而且使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过;受光元件,其接收检查光;以及壳体,其内置分束器,而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口,所述第1开口设置光源而供照射光传播,所述第2开口相当于输入输出口,所述第3开口设置受光元件,所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光,第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通,第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。

技术领域

本发明涉及光检测模块以及光检测装置。

背景技术

在光通信领域内,已知有使用分束器使光信号合成或分岔的光耦合器(例如参考专利文献1)。尤其是已知有如下光耦合器:具有分束器(半反射镜、分波滤光片或分光滤光片)、光源、受光器以及光波导,从光源经由分束器向光波导出射光,而且利用受光器接收从相同光波导入射并经过了分束器的光(例如参考专利文献2~5)。

此外,已知有向试样照射光并接收(检测)根据该照射光从试样获得的荧光、反射光等检查光的光检测装置。例如,专利文献6中记载有一种接收向牙齿照射光而获得的响应光来检测牙垢等当中包含的荧光物质的牙科用检查装置。专利文献7中记载有一种通过向牙齿照射特定波长的激发光并检测荧光物质发出的荧光来对牙垢的量或者龋齿程度进行定量的荧光测定法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利特开昭58-202423号公报

专利文献2:日本专利特开昭61-262711号公报

专利文献3:日本专利特开平6-160674号公报

专利文献4:日本专利特开平8-160259号公报

专利文献5:日本专利特开平8-234061号公报

专利文献6:日本专利特开2005-324032号公报

专利文献7:国际公开第2016/140199号

发明内容

在运用上述光耦合器的构成来实现同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测的光检测装置的情况下,为了提高检测灵敏度,抑制分束器中可能产生的杂散光的影响是比较重要的。此外,例如考虑到在牙科用等的检查装置上的应用,还要求以小型光检测模块的方式来实现光检测装置。杂散光可通过引导至光检测模块的壳体内设置的专用吸收孔来加以去除,但尤其是在小型模块的情况下,由于空间的制约,难以在照射光及检查光的光路之外设置足够大小的杂散光吸收孔。

本发明的目的在于提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。

本发明提供一种光检测模块,其特征在于,具有:光源,其出射去往试样的照射光;分束器,其朝输入输出口反射照射光,并使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过;受光元件,其接收检查光;以及壳体,其内置分束器,而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口,所述第1开口供光源设置并供照射光传播,所述第2开口相当于输入输出口,所述第3开口供受光元件设置,所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光,第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通,第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。

在光检测模块中,优选第1开口设置在壳体的上表面,第2开口及第3开口分别设置在壳体的相互相对的侧面,分束器固定在支承构件上,受光元件固定在受光部基板上,支承构件配置在从壳体的上表面上的第1开口与第3开口侧的端部之间的位置起沿倾斜方向形成的槽部内,借助从第3开口侧的侧面插入的固定件与受光部基板一起固定在壳体上。

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