[发明专利]光检测模块以及光检测装置

权利要求书

1.一种光检测模块，其特征在于，具有：

光源，其出射去往试样的照射光；

分束器，其朝输入输出口反射所述照射光，而且使通过所述输入输出口入射的来自试样的检查光透过；

受光元件，其接收所述检查光；以及

壳体，其内置所述分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，

所述第1开口供所述光源设置并供所述照射光传播，

所述第2开口相当于所述输入输出口，

所述第3开口供所述受光元件设置，

所述第4开口引导所述照射光当中透过了所述分束器的杂散光，

所述第1开口至第4开口在所述分束器的位置上相互连通，

所述第4开口沿与所述分束器的反射面正交的方向延伸。

2.根据权利要求1所述的光检测模块，其特征在于，

所述第1开口设置在所述壳体的上表面，所述第2开口及第3开口设置在所述壳体的相互相对的侧面，

所述分束器固定在支承构件上，所述受光元件固定在受光部基板上，

所述支承构件配置在从所述壳体的上表面上的所述第1开口与所述第3开口侧的端部之间的位置起沿倾斜方向形成的槽部内，通过从所述第3开口侧的侧面插入的固定件与所述受光部基板一起固定在所述壳体上。

3.根据权利要求2所述的光检测模块，其特征在于，

所述第4开口设置在所述壳体的下表面，

所述壳体的下部在所述第4开口周围没有朝下方突出，

所述壳体的下表面在所述第1开口侧的端部、所述第4开口周围、所述第3开口侧的端部为同一平面。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的光检测模块，其特征在于，

所述第3开口处的光路的内径比所述第2开口处的光路的内径大。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的光检测模块，其特征在于，

所述光源安装在光源基板上，

所述光检测模块还具有：

透镜，其配置在所述第1开口内，会聚所述照射光；以及

导热性的固定构件，其用于固定所述透镜，而且以与所述光源基板和所述壳体接触的方式配置在所述光源基板与所述壳体之间，

在所述光源基板的与所述固定构件接触的接触面上未设置有被覆膜，所述光源的布线图案露出。

6.根据权利要求5所述的光检测模块，其特征在于，还具有：

另一透镜，其配置在所述第3开口内，会聚所述检查光；以及

环状构件，其用于固定所述另一透镜，

所述环状构件的开口面向所述检查光的传播方向，作为所述检查光的光圈发挥功能。

7.一种光检测装置，其特征在于，具有：

根据权利要求1～6中任一项所述的光检测模块；

光纤，其连接于所述输入输出口；

电路基板，其用于驱动所述光源并检测由所述受光元件接收到的所述检查光的强度；以及

主体外壳，其内置所述光检测模块及所述电路基板。

8.根据权利要求7所述的光检测装置，其特征在于，

还具有用于向使用者显示状态的发光部，

所述第4开口和所述发光部分别配置在所述主体外壳的相互相对的面上。

9.根据权利要求7或8所述的光检测装置，其特征在于，

所述光源具有出射第1波长的光作为所述照射光的第1发光元件以及出射第2波长的光作为所述照射光的第2发光元件，

在所述电路基板的上表面配置有用于检测照射所述第1波长的光时的所述检查光的强度的第1控制电路，在所述电路基板的下表面配置有用于检测照射所述第2波长的光时的所述检查光的强度的第2控制电路，

所述第1控制电路及第2控制电路中的模拟元件分开安装在所述电路基板的上表面及下表面上的一侧，所述第1控制电路及第2控制电路中的数字元件分开安装在所述电路基板的上表面及下表面上的另一侧。