[发明专利]光测距装置在审

专利信息
申请号: 201980053271.4 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN112567260A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 尾崎宪幸;清野光宏;木村祯祐;柏田真司 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/484 分类号: G01S7/484;G01C3/06;G01S17/894;G01S17/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;王海奇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置
【说明书】:

本发明涉及光测距装置。光测距装置(10)具备:光源部(20),对测定范围照射照射光;受光部(30),具有受光面(32),上述受光面(32)具有能够接受与照射光的照射对应的来自包含测定范围的范围的反射光的多个受光要素,上述受光部(30)按每个受光要素输出与反射光的受光状态对应的信号;以及测定部(40),使用从受光部输出的信号来测定到测定范围中的物体的距离。而且,受光部具有通过选择输出信号的受光要素来使接受反射光的受光位置可变的功能,并针对反射光的位置,将受光位置向多个位置变更。

相关申请的交叉引用

本申请基于在2018年8月9日申请的日本申请号2018-150303号,并在此处引用其记载内容。

技术领域

本公开涉及光测距装置。

背景技术

关于光测距装置,例如在专利文献1所记载的雷达装置中,在呈二维矩阵状排列有多个像素的受光面中检测从光源照射的激光的反射光。由激光照射的激光的照射面形成为矩形,反射光照射到受光面的范围也成为矩形。在该装置中,通过在受光面中禁止受光范围外的像素的动作来抑制由光的误检测导致的影响。

专利文献1:日本特开2015-78953号公报

专利文献2:日本特开2004-157044号公报

专利文献3:日本特开平7-191148号公报

在这样的光测距装置中,由于光测距装置所使用的透镜、支架、粘着剂等的温度特性,根据周边温度,反射光相对于受光面的受光位置有可能变动。这样,无法在受光范围内适当地接受反射光,测距性能有可能降低。

发明内容

本公开能够作为以下的方式来实现。

根据本公开的一个方式,提供一种光测距装置。该光测距装置具备:光源部,对测定范围照射照射光;受光部,具有受光面,上述受光面具有能够接受与上述照射光的照射对应的来自包括上述测定范围的范围的反射光的多个受光要素,上述受光部按每个上述受光要素输出与上述反射光的受光状态对应的信号;以及测定部,使用从上述受光部输出的上述信号来测定到上述测定范围中的物体的距离。而且,上述受光部具有通过选择输出上述信号的受光要素而使接受上述反射光的受光位置可变的功能,针对上述反射光的位置,将上述受光位置向多个位置变更。

根据该方式的光测距装置,由于将受光部中的反射光的受光位置向多个位置变更,因此能够适当地接受反射光的可能性提高。因此,在反射光相对于受光面的受光位置根据周边温度而变动的情况下,能够减少测距性能降低的可能性。

另外,根据本公开的另一方式,提供一种光测距装置。该光测距装置具备:受光部,具有受光面,上述受光面具有能够接受来自测定范围的反射光的多个受光要素,上述受光部按每个上述受光要素输出与上述反射光的受光状态对应的信号;光源部,使照射照射光的方位变更并对上述测定范围照射上述照射光,使得上述反射光在上述受光面上移动;以及测定部,使用从上述受光部输出的上述信号来测定到上述测定范围中的物体的距离。而且,上述受光部使受光位置朝向预先决定的方向移动并进行上述反射光的接受,该受光位置是接受上述反射光的受光要素的位置,上述光源部针对进行上述反射光的接受的一个上述受光位置,将照射上述照射光的方位向多个方位变更。

根据该方式的光测距装置,由于针对进行反射光的接受的一个受光位置,将照射照射光的方位向多个方位变更,因此能够适当地接受反射光的可能性提高。因此,在反射光相对于受光面的受光位置根据周边温度而变动的情况下,能够减少测距性能降低的可能性。

本公开也能够通过光测距装置以外的各种方式来实现。例如,能够通过光测距方法、搭载光测距装置的车辆、控制光测距装置的控制方法等方式来实现。

附图说明

参照附图并通过下述的详细描述,关于本公开的上述目的以及其它目的、特征、优点变得更加明确。其附图是:

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