[发明专利]光测距装置在审

专利信息
申请号: 201980053271.4 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN112567260A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 尾崎宪幸;清野光宏;木村祯祐;柏田真司 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/484 分类号: G01S7/484;G01C3/06;G01S17/894;G01S17/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;王海奇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置
【权利要求书】:

1.一种光测距装置,是光测距装置(10),具备:

光源部(20),对测定范围照射照射光;

受光部(30),具有受光面(32),所述受光面(32)具有能够接受与所述照射光的照射对应的来自包含所述测定范围的范围的反射光的多个受光要素,所述受光部(30)按每个所述受光要素输出与所述反射光的受光状态对应的信号;以及

测定部(40),使用从所述受光部输出的所述信号来测定到所述测定范围中的物体的距离,

所述受光部具有通过选择输出所述信号的受光要素来使接受所述反射光的受光位置可变的功能,并针对所述反射光的位置,将所述受光位置向多个位置变更。

2.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,

所述受光面上的所述反射光的大小小于所述受光面的大小。

3.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其中,

所述光源部在多个方位中使方位变更并对所述测定范围照射所述照射光,使得照射所述照射光的方位朝向预先决定的方向移动。

4.根据权利要求1~3中任意一项所述的光测距装置,其中,

所述光源部在多个方位中使照射所述照射光的方位变更并对所述测定范围照射所述照射光,使得所述反射光在所述受光面上朝向预先决定的第一方向移动,

所述受光部针对被照射所述照射光的一个方位,将接受所述反射光的受光要素的位置、即受光位置在所述第一方向上向多个位置变更。

5.根据权利要求4所述的光测距装置,其中,

所述受光部通过使所述受光位置朝向所述第一方向移动而将所述受光位置向多个位置变更。

6.根据权利要求5所述的光测距装置,其中,

所述受光部使所述受光位置以比所述反射光在所述受光面上移动的速度快的速度移动。

7.根据权利要求6所述的光测距装置,其中,

每当完成对于所述照射光对所述一个方位的照射的受光处理时,所述受光部使所述受光位置向所述第一方向的相反方向移动。

8.根据权利要求7所述的光测距装置,其中,

所述受光部使所述受光位置向所述第一方向的相反方向移动,来使所述受光位置返回到比所述照射光对先前的方位的照射开始时的受光位置更靠所述第一方向侧的位置。

9.根据权利要求4~8中任意一项所述的光测距装置,其中,

在通过所述测定部针对所述多个方位完成距离的测定之后,所述受光部在不进行所述距离的测定期间中使所述受光位置返回到初始位置。

10.根据权利要求4~9中任意一项所述的光测距装置,其中,

所述光测距装置具备测定温度或者湿度的传感器(60),

所述受光部根据由所述传感器测定出的温度或者湿度来变更在所述一个方位变更所述受光位置的多个位置的数量。

11.根据权利要求1~10中任意一项所述的光测距装置,其中,

所述受光要素具备SPAD,所述SPAD输出表示光的入射的输出信号作为所述信号,其中,该SPAD是单光子雪崩二极管。

12.根据权利要求11所述的光测距装置,其中,

所述测定部按每个所述受光要素,对大致同时从多个所述SPAD输出的所述输出信号的数量进行计数,并按照射所述照射光之后的每个飞行时间,记录所计数的所述输出信号的数量,从而按每个所述受光要素求出直方图,并基于所述直方图,按每个所述受光要素测定所述距离。

13.一种光测距装置,具备:

受光部,具有受光面,所述受光面具有能够接受来自测定范围的反射光的多个受光要素,所述受光部按每个所述受光要素输出与所述反射光的受光状态对应的信号;

光源部,使照射照射光的方位变更并对所述测定范围照射所述照射光,使得所述反射光在所述受光面上移动;以及

测定部,使用从所述受光部输出的所述信号来测定到所述测定范围中的物体的距离,

所述受光部使受光位置朝向预先决定的方向移动并进行所述反射光的接受,所述受光位置是接受所述反射光的受光要素的位置,

所述光源部针对进行所述反射光的接受的一个所述受光位置,将照射所述照射光的方位向多个方位变更。

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